JAJSL48 July   2021 TMCS1108-Q1

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 Revision History
  5. 5 デバイスの比較
  6. 6 ピン構成および機能
  7. 7 仕様
    1. 7.1 絶対最大定格
    2. 7.2 ESD 定格
    3. 7.3 推奨動作条件
    4. 7.4 熱に関する情報
    5. 7.5 電力定格
    6. 7.6 電気的特性
    7. 7.7 代表的特性
      1. 7.7.1 絶縁特性曲線
  8. 8 パラメータ測定情報
    1. 8.1 精度パラメータ
      1. 8.1.1 感度誤差
      2. 8.1.2 オフセット誤差とオフセット誤差ドリフト
      3. 8.1.3 非直線性誤差
      4. 8.1.4 電源除去比
      5. 8.1.5 同相除去比
      6. 8.1.6 外部磁場エラー
    2. 8.2 過渡応答パラメータ
      1. 8.2.1 スルーレート
      2. 8.2.2 伝搬遅延と応答時間
      3. 8.2.3 過電流パラメータ
      4. 8.2.4 CMTI、同相電圧過渡耐性
    3. 8.3 安全動作領域
      1. 8.3.1 連続 DC または正弦波 AC 電流
      2. 8.3.2 反復的なパルス電流 SOA
      3. 8.3.3 単一イベント電流機能
  9. 9 詳細説明
    1. 9.1 概要
    2. 9.2 機能ブロック図
    3. 9.3 機能説明
      1. 9.3.1 電流入力
      2. 9.3.2 高精度信号チェーン
        1. 9.3.2.1 寿命と環境安定性
        2. 9.3.2.2 周波数応答
        3. 9.3.2.3 過渡応答
      3. 9.3.3 内部リファレンス電圧
      4. 9.3.4 電流検出の測定可能範囲
    4. 9.4 デバイスの機能モード
      1. 9.4.1 パワーダウンの動作
  10. 10アプリケーションと実装
    1. 10.1 アプリケーション情報
      1. 10.1.1 総誤差計算例
        1. 10.1.1.1 室温誤差の計算
        2. 10.1.1.2 全温度範囲の誤差の計算
    2. 10.2 代表的なアプリケーション
      1. 10.2.1 設計要件
      2. 10.2.2 詳細な設計手順
      3. 10.2.3 アプリケーション曲線
  11. 11電源に関する推奨事項
  12. 12レイアウト
    1. 12.1 レイアウトのガイドライン
    2. 12.2 レイアウト例
  13. 13デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 13.1 デバイスのサポート
      1. 13.1.1 開発サポート
    2. 13.2 ドキュメントのサポート
      1. 13.2.1 関連資料
    3. 13.3 Receiving Notification of Documentation Updates
    4. 13.4 サポート・リソース
    5. 13.5 商標
    6. 13.6 Electrostatic Discharge Caution
    7. 13.7 Glossary
  14. 14メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

9.3.2.1 寿命と環境安定性

TMCS1108-Q1 で温度ドリフトを低減するために活用されているのと同じ補償技法を使用すると、経年変化、ストレス、環境条件による寿命のドリフトも大幅に低減できます。一般的な磁気センサは、高い動作温度での経年劣化により、最大 2% から 3% の感度ドリフトが発生します。TMCS1108-Q1 は、3 ロットの AEC-Q100 認定時にワーストケースのストレス試験後に測定された合計感度誤差について、「電気的特性」表に定義されているように、寿命ドリフトが大幅に改善されています。AEC-Q100 認定で定められている他のすべてのストレス・テストでは、感度誤差が規定よりも低く、「電気的特性」表で規定された範囲内でした。ワーストケースのストレス試験である高度加速ストレス試験 (HAST) を 130℃の温度と 85% の相対湿度 (RH) で行った後の合計感度誤差を、図 9-1 に示します。また、AEC-Q100 の規定に従う 1000 時間、125℃の高温動作寿命ストレス試験後の感度およびオフセット誤差ドリフトを、図 9-2 および 図 9-3 に示します。このテストは、デバイスの寿命全体での標準的な動作を模倣しており、一般的な磁気センサに比べて経年劣化によるデバイス性能の変動が大幅に改善される可能性があることを示しています。

GUID-BC3FACBD-5139-494E-B667-222C262EA16D-low.gif図 9-1 130℃、85% RH HAST 後の感度誤差
GUID-3C5F1C85-D018-4555-AB6B-0A633277BD7F-low.gif図 9-3 AEC-Q100 高温動作寿命ストレス・テスト後の入力換算オフセット・ドリフト
GUID-BA198E70-4A09-4B15-A809-9B056A77DBE6-low.gif図 9-2 AEC-Q100 高温動作寿命ストレス・テスト後の感度誤差ドリフト