JAJSJV9A October   2020  – May 2024 TMUX1575

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Dynamic Characteristics
    7. 5.7 Timing Requirements
    8. 5.8 Typical Characteristics
  7. Parameter Measurement Information
    1. 6.1  On-Resistance
    2. 6.2  Off-Leakage Current
    3. 6.3  On-Leakage Current
    4. 6.4  IPOFF Leakage Current
    5. 6.5  Transition Time
    6. 6.6  tON (EN) and tOFF (EN) Time
    7. 6.7  Break-Before-Make Delay
    8. 6.8  Charge Injection
    9. 6.9  Off Isolation
    10. 6.10 Channel-to-Channel Crosstalk
    11. 6.11 Bandwidth
  8. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Bidirectional Operation
      2. 7.3.2 Beyond Supply Operation
      3. 7.3.3 1.2V Logic Compatible Inputs
      4. 7.3.4 Powered-off Protection
      5. 7.3.5 Fail-Safe Logic
      6. 7.3.6 Integrated Pull-Down Resistors
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Truth Tables
  9. Application and Implementation
    1. 8.1 Typical Application
      1. 8.1.1 Design Requirements
      2. 8.1.2 Detailed Design Procedure
    2. 8.2 Power Supply Recommendations
    3. 8.3 Layout
      1. 8.3.1 Layout Guidelines
      2. 8.3.2 Layout Example
  10. Device and Documentation Support
    1. 9.1 Documentation Support
      1. 9.1.1 Related Documentation
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 Trademarks
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10Revision History
  12. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1. 11.1 Mechanical Data

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
  • YCJ|16
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

TMUX1575 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。