JAJSQX2
august 2023
TMUX7612
ADVANCE INFORMATION
1
1
特長
2
アプリケーション
3
概要
4
Revision History
5
Pin Configuration and Functions
6
Specifications
6.1
Absolute Maximum Ratings
6.2
ESD Ratings
6.3
Thermal Information
6.4
Recommended Operating Conditions
6.5
Source or Drain Continuous Current Switch Pairs
6.6
Source or Drain Pulsed Current
6.7
Electrical Characteristics (12 V Single Supply)
6.8
Switching Characteristics (12 V Single Supply)
6.9
Electrical Characteristics (±15 V Dual Supply)
6.10
Switching Characteristics (±15 V Dual Supply)
6.11
Electrical Characteristics (±20 V Dual Supply)
6.12
Switching Characteristics (±20 V Dual Supply)
6.13
Electrical Characteristics (+37.5 V/–12.5 V Dual Supply)
6.14
Switching Characteristics (+37.5 V/–12.5 V Dual Supply)
6.15
Typical Characteristics
7
Detailed Description
7.1
Overview
7.2
Functional Block Diagram
7.3
Feature Description
7.3.1
Bidirectional Operation
7.3.2
Rail-to-Rail Operation
7.3.3
1.8 V Logic Compatible Inputs
7.3.4
Flat On-Resistance
7.3.5
Power-Up Sequence Free
7.3.6
Ultra-Low Charge Injection
7.3.7
Ultra-Low Leakage Current
7.4
Device Functional Modes
7.4.1
Truth Tables
8
Application and Implementation
8.1
Application Information
8.2
Typical Application
8.2.1
Detailed Design Procedure
8.2.2
Design Requirements
8.2.3
Application Curve
8.3
Power Supply Recommendations
8.4
Layout
8.4.1
Layout Guidelines
8.4.2
Layout Example
9
Device and Documentation Support
9.1
Documentation Support
9.1.1
Related Documentation
9.2
ドキュメントの更新通知を受け取る方法
9.3
サポート・リソース
9.4
Trademarks
9.5
静電気放電に関する注意事項
9.6
用語集
10
Mechanical, Packaging, and Orderable Information
10.1
Tape and Reel Information
10.2
Mechanical Data
パッケージ・オプション
メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
RUM|16
MPQF223A
PW|16
MPDS361A
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報
jajsqx2_oa
2
アプリケーション
半導体試験装置
SSR とフォトリレーの交換
自動試験装置
LCD 試験装置
メモリ試験装置
プログラマブル・ロジック・コントローラ (PLC)
ファクトリ・オートメーション / 制御
計測機器:ラボ、分析、ポータブル
データ・アクイジション・システム (DAQ)
光学試験装置