JAJSI28A October   2019  – August 2020 TPA3139D2

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 Revision History
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Characteristics,
      1. 6.7.1 Bridge -Tied Load (BTL)
      2. 6.7.2 Paralleled Bridge -Tied Load (PBTL)
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1  Analog Gain
      2. 7.3.2  SD/ FAULT and MUTE Operation
      3. 7.3.3  PLIMIT
      4. 7.3.4  Spread Spectrum and De-Phase Control
      5. 7.3.5  GVDD Supply
      6. 7.3.6  DC Detect
      7. 7.3.7  PBTL Select
      8. 7.3.8  Short-Circuit Protection and Automatic Recovery Feature
      9. 7.3.9  Over-Temperature Protection (OTP)
      10. 7.3.10 Over-Voltage Protection (OVP)
      11. 7.3.11 Under-Voltage Protection (UVP)
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 MODE_SEL = LOW: BD Modulation
      2. 7.4.2 MODE_SEL = HIGH: Low-Idle-Current 1SPW Modulation
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Applications
      1. 8.2.1 Design Requirements
        1. 8.2.1.1 PCB Material Recommendation
        2. 8.2.1.2 PVCC Capacitor Recommendation
        3. 8.2.1.3 Decoupling Capacitor Recommendations
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Ferrite Bead Filter Considerations
        2. 8.2.2.2 Efficiency: LC Filter Required with the Traditional Class-D Modulation Scheme
        3. 8.2.2.3 When to Use an Output Filter for EMI Suppression
        4. 8.2.2.4 Input Resistance
        5. 8.2.2.5 Input Capacitor, Ci
        6. 8.2.2.6 BSN and BSP Capacitors
        7. 8.2.2.7 Differential Inputs
        8. 8.2.2.8 Using Low-ESR Capacitors
      3. 8.2.3 Application Performance Curves
        1. 8.2.3.1 EN55013 Radiated Emissions Results
        2. 8.2.3.2 EN55022 Conducted Emissions Results
  9. 9 Power Supply Recommendations
    1. 9.1 Power Supply Decoupling, CS
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  11. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 Device Support
      1. 11.1.1 Third-Party Products Disclaimer
    2. 11.2 Documentation Support
      1. 11.2.1 Related Documentation
    3. 11.3 Receiving Notification of Documentation Updates
    4. 11.4 Support Resources
    5. 11.5 Trademarks
    6. 11.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 11.7 Glossary

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

11.6 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。