JAJSP20 November   2024 TPD4S480

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings—IEC Specification
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Timing Requirements
    7. 5.7 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 4-Channels of Short-to-VBUS Overvoltage Protection (CC1, CC2, SBU1, SBU2 Pins or CC1, CC2, DP, DM Pins): 63-VDC Tolerant
      2. 6.3.2 CC1, CC2 Overvoltage Protection FETs 600-mA Capable for Passing VCONN Power
      3. 6.3.3 CC Dead Battery Resistors Integrated for Handling the Dead Battery Use Case in Mobile Devices
      4. 6.3.4 EPR Adapter
        1. 6.3.4.1 VBUS Divider
        2. 6.3.4.2 EPR Blocking FET Gate Driver
    4. 6.4 Device Functional Modes
  8. Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Design Requirements
        1. 7.2.1.1 EPR Design Requirements
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.2.1 VBIAS Capacitor Selection
        2. 7.2.2.2 Dead Battery Operation
        3. 7.2.2.3 CC Line Capacitance
        4. 7.2.2.4 Additional ESD Protection on CC and SBU Lines
        5. 7.2.2.5 FLT Pin Operation
        6. 7.2.2.6 How to Connect Unused Pins
      3. 7.2.3 EPR Application Curves
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  9. Device and Documentation Support
    1. 8.1 Documentation Support
      1. 8.1.1 Related Documentation
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1.     52

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

TPD4S480 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。