JAJSLH4B April   2021  – January 2024 TPS3899-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Device Nomenclature
  6. 5 Pin Configuration and Functions
  7. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Timing Requirements
    7. 6.7 Timing Diagrams
    8. 6.8 Typical Characteristics
  8. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 VDD Hysteresis
      2. 7.3.2 User-Programmable Sense and Reset Time Delay
      3. 7.3.3 RESET/RESET Output
      4. 7.3.4 SENSE Input
        1. 7.3.4.1 Immunity to SENSE Pin Voltage Transients
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Normal Operation (VDD > VDD(min))
      2. 7.4.2 Above Power-On-Reset But Less Than VDD(min) (VPOR < VDD < VDD(min))
      3. 7.4.3 Below Power-On-Reset (VDD < VPOR)
  9. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design 1: Dual Rail Monitoring with Power-Up Sequencing
        1. 8.2.1.1 Design Requirements
        2. 8.2.1.2 Detailed Design Procedure
    3. 8.3 Application Curves
    4. 8.4 Power Supply Recommendations
    5. 8.5 Layout
      1. 8.5.1 Layout Guidelines
      2. 8.5.2 Layout Example
  10. 9 Device and Documentation Support
    1. 9.1 Device Support
      1. 9.1.1 Device Nomenclature
    2. 9.2 Receiving Notification of Documentation Updates
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 Trademarks
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10Revision History
  12. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

9.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。