JAJSGY7B September   2017  – February 2019 TPS61085A-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
    1.     Device Images
      1.      概略回路図
  4. 改訂履歴
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Soft Start
      2. 7.3.2 Frequency Select Pin (FREQ)
      3. 7.3.3 Undervoltage Lockout (UVLO)
      4. 7.3.4 Thermal Shutdown
      5. 7.3.5 Overvoltage Prevention
    4. 7.4 Device Functional Modes
  8. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Inductor Selection
        2. 8.2.2.2 Rectifier Diode Selection
        3. 8.2.2.3 Setting the Output Voltage
        4. 8.2.2.4 Compensation (COMP)
        5. 8.2.2.5 Input Capacitor Selection
        6. 8.2.2.6 Output Capacitor Selection
      3. 8.2.3 Application Curves
    3. 8.3 System Examples
  9. Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  11. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 デバイス・サポート
      1. 11.1.1 デベロッパー・ネットワークの製品に関する免責事項
    2. 11.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 11.3 コミュニティ・リソース
    4. 11.4 商標
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 Glossary
  12. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

Thermal Information

THERMAL METRIC(1) TPS61085A-Q1 UNIT
DGK (VSSOP)
8 PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 189.7 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 75.4 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 110 °C/W
ψJT Junction-to-top characterization parameter 13.7 °C/W
ψJB Junction-to-board characterization parameter 108.6 °C/W
For more information about traditional and new thermal metrics, see the application report, Semiconductor and IC Package Thermal Metrics.