JAJSKL0I october   2004  – may 2023 TPS715-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Revision History
  6. Pin Configuration and Functions
  7. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4.     Thermal Information
    5. 6.4 Electrical Characteristics
    6. 6.5 Typical Characteristics
  8. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagrams
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Wide Supply Range
      2. 7.3.2 Low Quiescent Current
      3. 7.3.3 Dropout Voltage (VDO)
      4. 7.3.4 Current Limit
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Normal Operation
      2. 7.4.2 Dropout Operation
  9. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.1.1 Programming the TPS71501-Q1 Adjustable LDO Regulator
        2. 8.2.1.2 External Capacitor Requirements
        3. 8.2.1.3 Input and Output Capacitor Requirements
        4. 8.2.1.4 Reverse Current
        5. 8.2.1.5 Feed-Forward Capacitor (CFF)
        6. 8.2.1.6 Power Dissipation (PD)
        7. 8.2.1.7 Estimating Junction Temperature
      2. 8.2.2 Application Curves
    3. 8.3 Power Supply Recommendations
    4. 8.4 Layout
      1. 8.4.1 Layout Guidelines
        1. 8.4.1.1 Power Dissipation
      2. 8.4.2 Layout Example
  10. Device and Documentation Support
    1. 9.1 Device Support
      1. 9.1.1 Development Support
        1. 9.1.1.1 Evaluation Module
        2. 9.1.1.2 Spice Models
      2. 9.1.2 Device Nomenclature
    2. 9.2 Documentation Support
      1. 9.2.1 Related Documentation
    3. 9.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 9.4 サポート・リソース
    5. 9.5 Trademarks
    6. 9.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 9.7 用語集
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
  • DCK|5
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。