JAJSHZ6B December   2008  – September 2019 TPS737-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
    1.     Device Images
      1.      代表的なアプリケーション回路
  4. 改訂履歴
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagrams
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Output Noise
      2. 7.3.2 Internal Current Limit
      3. 7.3.3 Enable Pin and Shutdown
      4. 7.3.4 Reverse Current
      5. 7.3.5 Thermal Protection
    4. 7.4 Device Functional Modes
  8. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Input and Output Capacitor Requirements
        2. 8.2.2.2 Dropout Voltage
        3. 8.2.2.3 Transient Response
      3. 8.2.3 Application Curves
  9. Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
      1. 10.1.1 Improve PSRR and Noise Performance
      2. 10.1.2 Power Dissipation
    2. 10.2 Layout Example
  11. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 ドキュメントのサポート
      1. 11.1.1 関連資料
    2. 11.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 11.3 コミュニティ・リソース
    4. 11.4 商標
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 Glossary
  12. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1. 12.1 パッケージの取り付け

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

Thermal Information

THERMAL METRIC(1) TPS737xx-Q1 UNIT
DRB (VSON)
8 PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 52.2 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 59.4 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 19.3 °C/W
ψJT Junction-to-top characterization parameter 2 °C/W
ψJB Junction-to-board characterization parameter 19.3 °C/W
RθJC(bot) Junction-to-case (bottom) thermal resistance 11.8 °C/W
For more information about traditional and new thermal metrics, see the Semiconductor and IC Package Thermal Metrics application report.