JAJSGJ4D August   2018  – April 2021 UCC21530-Q1

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 ピン構成と機能
    1.     ピン機能
  6. 6 仕様
    1. 6.1  絶対最大定格
    2. 6.2  ESD 定格
    3. 6.3  推奨動作条件
    4. 6.4  熱に関する情報
    5. 6.5  電力定格
    6. 6.6  絶縁仕様
    7. 6.7  安全関連認証
    8. 6.8  安全限界値
    9. 6.9  電気的特性
    10. 6.10 スイッチング特性
    11. 6.11 絶縁特性曲線
    12. 6.12 代表的特性
  7. 7 パラメータ測定情報
    1. 7.1 伝搬遅延とパルス幅歪み
    2. 7.2 立ち上がりおよび立ち下がり時間
    3. 7.3 入力とイネーブルの応答時間
    4. 7.4 プログラム可能なデッド・タイム
    5. 7.5 電源オン時の出力の UVLO 遅延
    6. 7.6 CMTI テスト
  8. 8 詳細説明
    1. 8.1 概要
    2. 8.2 機能ブロック図
    3. 8.3 機能説明
      1. 8.3.1 VDD、VCCI、低電圧誤動作防止 (UVLO)
      2. 8.3.2 入力および出力論理表
      3. 8.3.3 入力段
      4. 8.3.4 出力段
      5. 8.3.5 UCC21530-Q1 のダイオード構造
    4. 8.4 デバイスの機能モード
      1. 8.4.1 イネーブル・ピン
      2. 8.4.2 プログラマブル・デッド・タイム (DT) ピン
        1. 8.4.2.1 VCC に接続された DT ピン
        2. 8.4.2.2 DT ピンと GND ピンとの間の設定抵抗に接続される DT ピン
          1.        アプリケーションと実装
            1. 9.1 アプリケーション情報
            2. 9.2 代表的なアプリケーション
              1. 9.2.1 設計要件
              2. 9.2.2 詳細な設計手順
                1. 9.2.2.1 INA/INB 入力フィルタの設計
                2. 9.2.2.2 デッド・タイム抵抗およびコンデンサの選択
                3. 9.2.2.3 ゲート・ドライバの出力抵抗
                4. 9.2.2.4 ゲート・ドライバの電力損失の推定
                5. 9.2.2.5 接合部温度の推定
                6. 9.2.2.6 VCCI、VDDA/B コンデンサの選択
                  1. 9.2.2.6.1 VCCI コンデンサの選択
                7. 9.2.2.7 他のアプリケーション回路の例
              3. 9.2.3 アプリケーション曲線
                1.           電源に関する推奨事項
  9. 9 レイアウト
    1. 9.1 レイアウトのガイドライン
      1. 9.1.1 部品の配置に関する注意事項
      2. 9.1.2 接地に関する注意事項
      3. 9.1.3 高電圧に関する注意事項
      4. 9.1.4 熱に関する注意事項
    2. 9.2 レイアウト例
  10. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 ドキュメントのサポート
      1. 10.1.1 関連資料
    2. 10.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 10.3 コミュニティ・リソース
    4. 10.4 商標
      1.      メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

6.6 絶縁仕様

パラメータテスト条件値単位
CLR空間距離(1)空気中での最短のピン間距離> 8mm
CPG沿面距離(1)パッケージ表面に沿った最短のピン間距離> 8mm
DTI絶縁間の距離二重絶縁 (2 × 10.5µm) の最小内部ギャップ (内部距離)> 21µm
CTI比較トラッキング指数DIN EN 60112 (VDE 0303-11)、IEC 60112> 600V
材料グループIEC 60664-1 によるI
IEC 60664-1 に準拠した過電圧カテゴリ定格商用電源 VRMS が 600V 以下I-IV
定格商用電源 VRMS が1000V 以下I-III
DIN V VDE V 0884-11 (VDE V 0884-11): 2017-01(2)
VIORM最大反復ピーク絶縁電圧AC 電圧 (バイポーラ)2121VPK
VIOWM最大動作絶縁電圧AC 電圧 (正弦波)、絶縁膜経時破壊 (TDDB)、テスト (図 6-1 を参照)1500VRMS
DC 電圧2121VDC
VIOTM最大過渡絶縁電圧VTEST = VIOTM、t = 60s (認定)
VTEST = 1.2 × VIOTM、t = 1s (100% 出荷時)		8000VPK
VIOSM最大サージ絶縁電圧(3)IEC 62368-1 に準拠したテスト手法、1.2/50μs 波形、
VTEST = 1.6 × VIOSM = 12800VPK (認定)		8000VPK
qpd見掛けの放電電荷(4)方法 a、I/O 安全テスト・サブグループ 2/3 の後
Vini = VIOTM、tini = 60s、

Vpd(m) = 1.2 × VIORM = 2545 VPK、tm = 10s

<5pC
方法 a、環境テスト・サブグループ 1 の後
Vini = VIOTM、tini = 60s、

Vpd(m) = 1.6 × VIORM = 3394 VPK、tm = 10s

<5

方法 b1、ルーチン・テスト (100% 出荷時) および事前条件設定 (タイプ・テスト)

Vini = 1.2 × VIOTM、tini = 1s、

Vpd(m) = 1.875 × VIORM = 3977 VPK、tm = 1s

<5
CIO絶縁バリア容量、入力から出力へ(5)VIO = 0.4 sin (2πft)、f = 1MHz1.2pF
RIO絶縁抵抗、入力から出力へ(5)VIO = 500V (TA = 25℃時)> 1012Ω
VIO = 500V (100℃ < TA ≤ 125℃時)> 1011
VIO = 500V (TS = 150℃時)> 109
汚染度2
耐候性カテゴリ40/125/21
UL 1577
VISO絶縁耐圧VTEST = VISO = 5700VRMS、t = 60s (認定)、

VTEST = 1.2 × VISO = 6840VRMS、t = 1s (100% 出荷時)

5700VRMS
(1) 沿面距離および空間距離の要件は、アプリケーション個別の機器絶縁規格に従って適用する必要があります。沿面距離および空間距離を維持するために、プリント基板上でアイソレータの取り付けパッドによってこの距離が短くならないように注意して基板を設計する必要があります。場合によっては、PCB 上の沿面距離と空間距離が等しくなります。プリント基板上にグルーブやリブを設けるなどの技法を使用して、これらの仕様値を大きくすることができます。
(2) この絶縁素子は、安全定格内に限定した安全な電気的絶縁に適しています。安全定格への準拠は、適切な保護回路によって保証する必要があります。
(3) テストは、絶縁バリアの固有サージ耐性を判定するため、気中または油中で実行されます。
(4) 見掛けの放電電荷とは、部分放電 (pd) により発生する静電放電です。
(5) 絶縁膜のそれぞれの側にあるすべてのピンは互いに接続され、実質的に 2 ピンのデバイスになります。