JAJSOA1C June   2022  – March 2023 UCC28C50-Q1 , UCC28C51-Q1 , UCC28C52-Q1 , UCC28C53-Q1 , UCC28C54-Q1 , UCC28C55-Q1 , UCC28C56H-Q1 , UCC28C56L-Q1 , UCC28C57H-Q1 , UCC28C57L-Q1 , UCC28C58-Q1 , UCC28C59-Q1

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 Revision History
  5. 5 Device Comparison Table
  6. 6 Pin Configuration and Functions
  7. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Typical Characteristics
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1  Detailed Pin Description
        1. 8.3.1.1 COMP
        2. 8.3.1.2 FB
        3. 8.3.1.3 CS
        4. 8.3.1.4 RT/CT
        5. 8.3.1.5 GND
        6. 8.3.1.6 OUT
        7. 8.3.1.7 VDD
        8. 8.3.1.8 VREF
      2. 8.3.2  Undervoltage Lockout
      3. 8.3.3  ±1% Internal Reference Voltage
      4. 8.3.4  Current Sense and Overcurrent Limit
      5. 8.3.5  Reduced-Discharge Current Variation
      6. 8.3.6  Oscillator Synchronization
      7. 8.3.7  Soft Start
      8. 8.3.8  Enable and Disable
      9. 8.3.9  Slope Compensation
      10. 8.3.10 Voltage Mode
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Normal Operation
      2. 8.4.2 UVLO Mode
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.2.1  Primary-to-Secondary Turns Ratio of the Flyback Transformer (NPS)
        2. 9.2.2.2  Primary Magnetizing Inductance of the Flyback Transformer (LM)
        3. 9.2.2.3  Number of Turns of the Flyback Transformer Windings
        4. 9.2.2.4  Current Sense Resistors (R24, R25) and Current Limiting
        5. 9.2.2.5  Primary Clamp Circuit (D7, D1, D3, R2, R28) to Limit Voltage Stress
        6. 9.2.2.6  Primary-Side Current Stress and Input Capacitor Selection
        7. 9.2.2.7  Secondary-Side Current Stress and Output Capacitor Selection
        8. 9.2.2.8  VDD Capacitors (C12, C18)
        9. 9.2.2.9  Gate Drive Network (R14, R16, Q6)
        10. 9.2.2.10 VREF Capacitor (C18)
        11. 9.2.2.11 RT/CT Components (R12, C15)
        12. 9.2.2.12 HV Start-Up Circuitry for VDD (Q1, Q2, D2, D4, D6, D8, R5)
        13. 9.2.2.13 Desensitization to CS-pin Noise by RC Filtering, Leading-Edge Blanking, and Slope Compensation
        14. 9.2.2.14 Voltage Feedback Compensation
          1. 9.2.2.14.1 Power Stage Gain, Poles, and Zeroes
          2. 9.2.2.14.2 Compensation Components
          3. 9.2.2.14.3 Bode Plots and Stability Margins
          4. 9.2.2.14.4 Stability Measurements
      3. 9.2.3 Application Curves
    3. 9.3 PCB Layout Recommendations
      1. 9.3.1 PCB Layout Routing Examples
    4. 9.4 Power Supply Recommendations
  10. 10Device and Documentation Support
    1. 10.1 Device Support
      1. 10.1.1 Development Support
    2. 10.2 Documentation Support
      1. 10.2.1 Related Documentation
    3. 10.3 Related Links
    4. 10.4 サポート・リソース
    5. 10.5 Trademarks
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 用語集
  11. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

10.6 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。