JAJS366D October   2006  – October 2024 XTR111

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configurations and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Typical Characteristics
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Explanation of Pin Functions
      2. 6.3.2 Dynamic Performance
      3. 6.3.3 External Current Limit
      4. 6.3.4 External MOSFET
      5. 6.3.5 Output Error Flag and Disable Input
      6. 6.3.6 Voltage Regulator
      7. 6.3.7 Level Shift of 0V Input and Transconductance Trim
    4. 6.4 Device Functional Modes
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
      1. 7.1.1 Input Voltage
      2. 7.1.2 Error Flag Delay
      3. 7.1.3 Voltage Output Configuration
      4. 7.1.4 4mA-to-20mA Output
    2. 7.2 Typical Applications
      1. 7.2.1 0mA–20mA Voltage-to-Current Converter
        1. 7.2.1.1 Design Requirements
        2. 7.2.1.2 Detailed Design Procedure
        3. 7.2.1.3 Application Curve
      2. 7.2.2 Additional Applications
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
        1. 7.4.1.1 Package and Heat Dissipation
        2. 7.4.1.2 Thermal Pad Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  9. 8 Device and Documentation Support
    1. 8.1 Device Support
      1. 8.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 8.2 Documentation Support
      1. 8.2.1 Related Documentation
    3. 8.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 8.4 サポート・リソース
    5. 8.5 Trademarks
    6. 8.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 8.7 用語集
  10. 9 Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.6 静電気放電に関する注意事項

XTR111 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。