JAJA717 October   2021 DRV5032 , TMAG5170 , TMAG5231 , TMAG5273

 

  1.   概要
  2.   商標
  3. 1概要
  4. 2リード・スイッチの概要
  5. 3ホール効果センサの概要
  6. 4性能比較
  7. 5DRV5032 のテストの構成と結果
    1. 5.1 DRV5032 のテストの構成
    2. 5.2 結果についての説明
    3. 5.3 DRV5032 のテスト結果
    4. 5.4 前面手法の結果
    5. 5.5 側面手法
    6. 5.6 改ざんの受けやすさのテストの構成
    7. 5.7 改ざんの受けやすさのテスト結果
  8. 6リード・スイッチのテスト構成と結果
    1. 6.1 リード・スイッチのテストの構成
    2. 6.2 リード・スイッチのテスト結果
    3. 6.3 前面手法の結果
    4. 6.4 側面手法の結果
    5. 6.5 改ざんの受けやすさのテストの構成
    6. 6.6 リード・スイッチの改ざんの受けやすさテストの結果
  9. 7TMAG5170 のテストの構成と結果
    1. 7.1 TMAG5170 のテストの構成
    2. 7.2 TMAG5170 のテスト結果
    3. 7.3 TMAG5170 の改ざんの受けやすさのテストの構成
    4. 7.4 TMAG5170 の改ざんの受けやすさのテストの成果
  10. 8まとめ

5.2 結果についての説明

ノード・テストと、固有の各ノードの可変軸で観測された検出距離の関係で、図 5-3 に示すような表形式が使用されました。すべてのテストでセンサの高さは一定に保たれ、高さ (Z) の値を 6 回繰り返す間、Y (側面手法では X ) の変化も一定に保たれます。平面からの高さは、単純に磁石の Z 位置からセンサの高さを引いた値です。最後の列にある X の値は、各ノードのテスト中に測定された、観測可能な検出ポイントの距離です。

GUID-20210810-SS0I-G2KW-VTMC-HWFZZJXCDLBG-low.png図 5-3 テスト結果についての説明