JAJSCV1F November   2016  – August 2023 ISO7740-Q1 , ISO7741-Q1 , ISO7742-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. ピン構成および機能
  6. 仕様
    1. 5.1  絶対最大定格
    2. 5.2  ESD 定格
    3. 5.3  推奨動作条件
    4. 5.4  熱に関する情報
    5. 5.5  電力定格
    6. 5.6  絶縁仕様
    7. 5.7  安全関連認証
    8. 5.8  安全限界値
    9. 5.9  電気的特性— 5V 電源
    10. 5.10 電源電流特性— 5V 電源
    11. 5.11 電気的特性— 3.3V 電源
    12. 5.12 電源電流特性— 3.3V 電源
    13. 5.13 電気的特性— 2.5V 電源 
    14. 5.14 電源電流特性— 2.5V 電源
    15. 5.15 スイッチング特性— 5V 電源
    16. 5.16 スイッチング特性— 3.3V 電源
    17. 5.17 スイッチング特性— 2.5V 電源
    18. 5.18 絶縁特性曲線
    19. 5.19 代表的特性
  7. パラメータ測定情報
  8. 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 電磁両立性 (EMC) に関する検討事項
    4. 7.4 デバイスの機能モード
      1. 7.4.1 デバイス I/O 回路図
  9. アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 設計要件
      2. 8.2.2 詳細な設計手順
      3. 8.2.3 アプリケーション曲線
        1. 8.2.3.1 絶縁寿命
  10. 電源に関する推奨事項
  11. 10レイアウト
    1. 10.1 レイアウトのガイドライン
      1. 10.1.1 PCB 材料
    2. 10.2 レイアウト例
  12. 11デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 11.1 ドキュメントのサポート
      1. 11.1.1 関連資料
    2. 11.2 関連リンク
    3. 11.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 11.4 サポート・リソース
    5. 11.5 商標
    6. 11.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 11.7 用語集
  13. 12改訂履歴
  14. 13メカニカル、パッケージ、および注文情報

絶縁寿命

絶縁寿命予測データは、業界標準の TDDB (Time Dependent Dielectric Breakdown、経時絶縁破壊) テスト手法を使用して収集されます。このテストでは、バリアのそれぞれの側にあるすべてのピンを互いに接続して 2 つの端子を持つデバイスを構成し、その両側に高電圧を印加します。TDDB テスト構成については、図 8-6 を参照してください。この絶縁破壊データは、動作温度範囲で、さまざまな電圧について 60Hz でスイッチングして収集されます。強化絶縁について、VDE 規格では、100 万分の 1 (ppm) 未満の故障率での TDDB (経時絶縁破壊) 予測曲線の使用が求められています。期待される最小絶縁寿命は、規定の動作絶縁電圧において 20 年ですが、VDE の強化絶縁認証には、動作電圧について 20%、寿命について 50% の安全マージンがさらに必要となります。すなわち、規定値よりも 20% 高い動作電圧で、30 年の最小絶縁寿命が必要であることになります。  

図 8-7 に、寿命全体にわたって高電圧ストレスに耐えることができる、絶縁バリアの固有能力を示します。この TDDB データによれば、絶縁バリアの固有能力は 1500 VRMS、寿命は 36 年です。パッケージ サイズ、汚染度、材料グループなど他の要因により、部品の動作電圧がさらに制限される場合があります。DW-16 パッケージの動作電圧は最大 1500VRMS と規定されています。動作電圧が低い場合、対応する絶縁寿命は 36 年よりはるかに長くなります。DWW-16 パッケージの絶縁耐圧は 2000VRMS であり、対応する寿命は 34 年です。DBQ-16 パッケージは、動作電圧が 400VRMS であり、DW-16 および DWW-16 パッケージよりも寿命がはるかに長くなります。

ISO7740-Q1 ISO7741-Q1 ISO7742-Q1 絶縁寿命測定用のテスト構成図 8-6 絶縁寿命測定用のテスト構成
ISO7740-Q1 ISO7741-Q1 ISO7742-Q1 絶縁寿命予測データ図 8-7 絶縁寿命予測データ