JAJSF12A March   2018  – January 2024 LMR14010A

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Typical Characteristics
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Fixed Frequency PWM Control
      2. 6.3.2 Bootstrap Voltage (CB)
      3. 6.3.3 Setting the Output Voltage
      4. 6.3.4 Enable ( SHDN ) and VIN Undervoltage Lockout
      5. 6.3.5 Current Limit
      6. 6.3.6 Thermal Shutdown
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Continuous Conduction Mode
      2. 6.4.2 Eco-mode
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Design Requirements
        1. 7.2.1.1 Step-By-Step Design Procedure
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.2.1 Custom Design With WEBENCH® Tools
        2. 7.2.2.2 Output Inductor Selection
        3. 7.2.2.3 Output Capacitor Selection
        4. 7.2.2.4 Schottky Diode Selection
        5. 7.2.2.5 Input Capacitor Selection
        6. 7.2.2.6 Bootstrap Capacitor Selection
      3. 7.2.3 Application Performance Curves
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  9. 8 Device and Documentation Support
    1. 8.1 Device Support
      1. 8.1.1 Development Support
        1. 8.1.1.1 Custom Design With WEBENCH® Tools
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. 9 Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

8.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。