JAJSGJ4D August 2018 – April 2021 UCC21530-Q1
PRODUCTION DATA
パラメータ | テスト条件 | 値 | 単位 | |
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CLR | 空間距離(1) | 空気中での最短のピン間距離 | > 8 | mm |
CPG | 沿面距離(1) | パッケージ表面に沿った最短のピン間距離 | > 8 | mm |
DTI | 絶縁間の距離 | 二重絶縁 (2 × 10.5µm) の最小内部ギャップ (内部距離) | > 21 | µm |
CTI | 比較トラッキング指数 | DIN EN 60112 (VDE 0303-11)、IEC 60112 | > 600 | V |
材料グループ | IEC 60664-1 による | I | ||
IEC 60664-1 に準拠した過電圧カテゴリ | 定格商用電源 VRMS が 600V 以下 | I-IV | ||
定格商用電源 VRMS が1000V 以下 | I-III | |||
DIN V VDE V 0884-11 (VDE V 0884-11): 2017-01(2) | ||||
VIORM | 最大反復ピーク絶縁電圧 | AC 電圧 (バイポーラ) | 2121 | VPK |
VIOWM | 最大動作絶縁電圧 | AC 電圧 (正弦波)、絶縁膜経時破壊 (TDDB)、テスト (図 6-1 を参照) | 1500 | VRMS |
DC 電圧 | 2121 | VDC | ||
VIOTM | 最大過渡絶縁電圧 | VTEST = VIOTM、t = 60s (認定) VTEST = 1.2 × VIOTM、t = 1s (100% 出荷時) | 8000 | VPK |
VIOSM | 最大サージ絶縁電圧(3) | IEC 62368-1 に準拠したテスト手法、1.2/50μs 波形、 VTEST = 1.6 × VIOSM = 12800VPK (認定) | 8000 | VPK |
qpd | 見掛けの放電電荷(4) | 方法 a、I/O 安全テスト・サブグループ 2/3 の後 Vini = VIOTM、tini = 60s、 Vpd(m) = 1.2 × VIORM = 2545 VPK、tm = 10s | <5 | pC |
方法 a、環境テスト・サブグループ 1 の後 Vini = VIOTM、tini = 60s、 Vpd(m) = 1.6 × VIORM = 3394 VPK、tm = 10s | <5 | |||
方法 b1、ルーチン・テスト (100% 出荷時) および事前条件設定 (タイプ・テスト) Vini = 1.2 × VIOTM、tini = 1s、 Vpd(m) = 1.875 × VIORM = 3977 VPK、tm = 1s | <5 | |||
CIO | 絶縁バリア容量、入力から出力へ(5) | VIO = 0.4 sin (2πft)、f = 1MHz | 1.2 | pF |
RIO | 絶縁抵抗、入力から出力へ(5) | VIO = 500V (TA = 25℃時) | > 1012 | Ω |
VIO = 500V (100℃ < TA ≤ 125℃時) | > 1011 | |||
VIO = 500V (TS = 150℃時) | > 109 | |||
汚染度 | 2 | |||
耐候性カテゴリ | 40/125/21 | |||
UL 1577 | ||||
VISO | 絶縁耐圧 | VTEST = VISO = 5700VRMS、t = 60s (認定)、 VTEST = 1.2 × VISO = 6840VRMS、t = 1s (100% 出荷時) | 5700 | VRMS |