JAJSH49C March   2019  – April 2024 DS90UB953A-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性
    6. 5.6 シリアル制御バスの推奨タイミング
    7. 5.7 タイミング図
    8. 5.8 代表的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1 CSI-2 レシーバ
        1. 6.3.1.1 CSI-2 レシーバの動作モード
        2. 6.3.1.2 CSI-2 レシーバの高速モード
        3. 6.3.1.3 CSI-2 プロトコル層
        4. 6.3.1.4 CSI-2 ショート パケット
        5. 6.3.1.5 CSI-2 ロング パケット
        6. 6.3.1.6 CSI-2 のエラーと検出
          1. 6.3.1.6.1 CSI-2 の ECC 検出および訂正
          2. 6.3.1.6.2 CSI-2 のチェックサム検出
          3. 6.3.1.6.3 D-PHY のエラー検出
          4. 6.3.1.6.4 CSI-2 レシーバのステータス
      2. 6.3.2 FPD-Link III フォワード チャネル トランスミッタ
        1. 6.3.2.1 フレーム フォーマット
      3. 6.3.3 FPD-Link III バック チャネル レシーバ
      4. 6.3.4 シリアライザのステータスと監視
        1. 6.3.4.1 フォワード チャネルの診断
        2. 6.3.4.2 バック チャネルの診断
        3. 6.3.4.3 電圧と温度の検出
          1. 6.3.4.3.1 プログラミング例
        4. 6.3.4.4 組み込み自己テスト
      5. 6.3.5 フレーム同期の動作
        1. 6.3.5.1 外部フレーム同期
        2. 6.3.5.2 フレーム同期の内部生成
      6. 6.3.6 GPIO サポート
        1. 6.3.6.1 GPIO のステータス
        2. 6.3.6.2 GPIO の入力制御
        3. 6.3.6.3 GPIO の出力制御
        4. 6.3.6.4 フォワード チャネル GPIO
        5. 6.3.6.5 バック チャネル GPIO
    4. 6.4 デバイスの機能モード
      1. 6.4.1 クロッキング モード
        1. 6.4.1.1 同期モード
        2. 6.4.1.2 非同期クロック モード
        3. 6.4.1.3 非同期内部モード
        4. 6.4.1.4 DVP 下位互換モード
        5. 6.4.1.5 CLK_OUT の構成
      2. 6.4.2 モード
    5. 6.5 プログラミング
      1. 6.5.1 I2C インターフェイスの構成
        1. 6.5.1.1 CLK_OUT/IDX
          1. 6.5.1.1.1 IDX
      2. 6.5.2 I2C インターフェイスの動作
      3. 6.5.3 I2C のタイミング
    6. 6.6 パターン生成
      1. 6.6.1 基準カラー バー パターン
      2. 6.6.2 固定カラー パターン
      3. 6.6.3 パケット ジェネレータのプログラミング
        1. 6.6.3.1 カラー バー サイズの決定
      4. 6.6.4 パターン ジェネレータのコード例
    7. 6.7 レジスタ マップ
      1. 6.7.1 メイン レジスタ
        1. 6.7.1.1  I2C デバイス ID レジスタ
        2. 6.7.1.2  リセット
        3. 6.7.1.3  一般的な構成
        4. 6.7.1.4  フォワード チャネル モードの選択
        5. 6.7.1.5  BC_MODE_SELECT
        6. 6.7.1.6  PLL クロック制御
        7. 6.7.1.7  クロック出力制御 0
        8. 6.7.1.8  クロック出力制御 1
        9. 6.7.1.9  バック チャネル ウォッチドッグ制御
        10. 6.7.1.10 I2C 制御 1
        11. 6.7.1.11 I2C 制御 2
        12. 6.7.1.12 SCL High 時間
        13. 6.7.1.13 SCL Low 時間
        14. 6.7.1.14 ローカル GPIO データ
        15. 6.7.1.15 GPIO の入力制御
        16. 6.7.1.16 DVP_CFG
        17. 6.7.1.17 DVP_DT
        18. 6.7.1.18 BIST エラーを強制
        19. 6.7.1.19 リモート BIST 制御
        20. 6.7.1.20 最大電圧ゲイン
        21. 6.7.1.21 SSI 制御 0
        22. 6.7.1.22 SSI 制御 1
        23. 6.7.1.23 電圧センサ 0 のスレッショルド
        24. 6.7.1.24 電圧センサ 1 のスレッショルド
        25. 6.7.1.25 温度センサのスレッショルド
        26. 6.7.1.26 CSI-2 のアラーム イネーブル
        27. 6.7.1.27 アラーム検出イネーブル
        28. 6.7.1.28 バック チャネルのアラーム イネーブル
        29. 6.7.1.29 CSI-2 の極性選択
        30. 6.7.1.30 CSI-2 の LP モードの極性
        31. 6.7.1.31 CSI-2 の高速 RX イネーブル
        32. 6.7.1.32 CSI-2 の低消費電力イネーブル
        33. 6.7.1.33 CSI-2 の終端イネーブル
        34. 6.7.1.34 CSI-2 のパケット ヘッダー制御
        35. 6.7.1.35 バック チャネルの構成
        36. 6.7.1.36 データパス制御 1
        37. 6.7.1.37 リモート パートナー能力 1
        38. 6.7.1.38 パートナー デシリアライザ ID
        39. 6.7.1.39 ターゲット 0 ID
        40. 6.7.1.40 ターゲット 1 ID
        41. 6.7.1.41 ターゲット 2 ID
        42. 6.7.1.42 ターゲット 3 ID
        43. 6.7.1.43 ターゲット 4 ID
        44. 6.7.1.44 ターゲット 5 ID
        45. 6.7.1.45 ターゲット 6 ID
        46. 6.7.1.46 ターゲット 7 ID
        47. 6.7.1.47 ターゲット 0 エイリアス
        48. 6.7.1.48 ターゲット 1 エイリアス
        49. 6.7.1.49 ターゲット 2 エイリアス
        50. 6.7.1.50 ターゲット 3 エイリアス
        51. 6.7.1.51 ターゲット 4 エイリアス
        52. 6.7.1.52 ターゲット 5 エイリアス
        53. 6.7.1.53 ターゲット 6 エイリアス
        54. 6.7.1.54 ターゲット 7 エイリアス
        55. 6.7.1.55 バック チャネル制御
        56. 6.7.1.56 リビジョン ID
        57. 6.7.1.57 デバイス ステータス
        58. 6.7.1.58 一般ステータス
        59. 6.7.1.59 GPIO ピン ステータス
        60. 6.7.1.60 BIST エラー カウント
        61. 6.7.1.61 CRC エラー カウント 1
        62. 6.7.1.62 CRC エラー カウント 2
        63. 6.7.1.63 センサ ステータス
        64. 6.7.1.64 センサ V0
        65. 6.7.1.65 センサ V1
        66. 6.7.1.66 センサ T
        67. 6.7.1.67 CSI-2 エラー カウント
        68. 6.7.1.68 CSI-2 エラー ステータス
        69. 6.7.1.69 CSI-2 エラー データ レーン 0 および 1
        70. 6.7.1.70 CSI-2 エラー データ レーン 2 および 3
        71. 6.7.1.71 CSI-2 エラー クロック レーン
        72. 6.7.1.72 CSI-2 パケット ヘッダー データ
        73. 6.7.1.73 パケット ヘッダーのワード数 0
        74. 6.7.1.74 パケット ヘッダーのワード数 1
        75. 6.7.1.75 CSI-2 ECC
        76. 6.7.1.76 IND_ACC_CTL
        77. 6.7.1.77 IND_ACC_ADDR
        78. 6.7.1.78 IND_ACC_DATA
        79. 6.7.1.79 FPD3_TX_ID0
        80. 6.7.1.80 FPD3_TX_ID1
        81. 6.7.1.81 FPD3_TX_ID2
        82. 6.7.1.82 FPD3_TX_ID3
        83. 6.7.1.83 FPD3_TX_ID4
        84. 6.7.1.84 FPD3_TX_ID5
      2. 6.7.2 間接アクセス レジスタ
        1. 6.7.2.1 PATGEN レジスタ
        2. 6.7.2.2 アナログ レジスタ
  8. 7 アプリケーションと実装
    1. 7.1 アプリケーション情報
      1. 7.1.1 Power-over-Coax
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
      1. 7.2.1 設計要件
      2. 7.2.2 詳細な設計手順
        1. 7.2.2.1 CSI-2 インターフェイス
        2. 7.2.2.2 FPD-Link III の入出力
        3. 7.2.2.3 内部レギュレータのバイパス
        4. 7.2.2.4 ループ フィルタのデカップリング
      3. 7.2.3 アプリケーション曲線
    3. 7.3 電源に関する推奨事項
      1. 7.3.1 パワーアップ シーケンシング
        1. 7.3.1.1 システムの初期化
          1. 7.3.1.1.1 温度上昇初期化のコード例
      2. 7.3.2 パワーダウン (PDB)
    4. 7.4 レイアウト
      1. 7.4.1 レイアウトのガイドライン
        1. 7.4.1.1 CSI-2 のガイドライン
      2. 7.4.2 レイアウト例
  9. 8 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 ドキュメントのサポート
      1. 8.1.1 関連資料
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 商標
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. 9 改訂履歴
  11. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報

6.3.4.4 組み込み自己テスト

オプションの実速度での内蔵セルフ テスト (BIST) 機能を使うと、外部データ接続を使わずに高速シリアル リンクとバック チャネルをテストできます。この機能は、試作段階、デバイスの量産時、インシステム テスト、システムの診断に役立ちます。

BIST モードは、デシリアライザの BIST 構成レジスタ 0xB3[0] によってイネーブルされ、同期モードでのみ動作します。デシリアライザで BIST が開始されると、BIST イネーブル信号がバック チャネル経由でシリアライザに送信されます。シリアライザは、疑似ランダム シーケンスの連続ストリームを出力し、リンクを実速度で駆動します。デシリアライザは、テスト パターンを検出し、そのパターンのエラーを監視します。シリアライザは、各バック チャネル フレームの CRC フィールドによって示されたエラーも追跡します。適切なデータ受信の開始を識別するためにはロック通知が必要ですが、リンク障害やデータ破損をよく示すものは、デシリアライザ側の各 RX ポートについて、BIST_ERR_COUNT レジスタ 0x57 のエラー カウンタの内容です。BIST モードは、試作段階、デバイスの量産時、インシステム テスト、システムの診断に役立ちます。