JAJSIW0N November   2004  – June 2024 TLVH431 , TLVH431A , TLVH431B , TLVH432 , TLVH432A , TLVH432B

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 TLVH43x Electrical Characteristics
    6. 5.6 TLVH43xA Electrical Characteristics
    7. 5.7 TLVH43xB Electrical Characteristics
    8. 5.8 Typical Characteristics
  7. Parameter Measurement Information
  8. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Open Loop (Comparator)
      2. 7.4.2 Closed Loop
  9. Applications and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Applications
      1. 8.2.1 Comparator With Integrated Reference (Open Loop)
        1. 8.2.1.1 Design Requirements
        2. 8.2.1.2 Detailed Design Procedure
          1. 8.2.1.2.1 Basic Operation
          2. 8.2.1.2.2 Overdrive
          3. 8.2.1.2.3 Output Voltage and Logic Input Level
            1. 8.2.1.2.3.1 Input Resistance
        3. 8.2.1.3 Application Curves
      2. 8.2.2 Shunt Regulator/Reference
        1. 8.2.2.1 Design Requirements
        2. 8.2.2.2 Detailed Design Procedure
          1. 8.2.2.2.1 Programming Output/Cathode Voltage
          2. 8.2.2.2.2 Total Accuracy
          3. 8.2.2.2.3 Stability
        3. 8.2.2.3 Application Curve
    3. 8.3 Power Supply Recommendations
    4. 8.4 Layout
      1. 8.4.1 Layout Guidelines
      2. 8.4.2 Layout Example
  10. Device and Documentation Support
    1. 9.1 Documentation Support
      1. 9.1.1 Related Documentation
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 Trademarks
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 用語集
  11. 10Revision History
  12. 11Mechanical, Packaging, and Orderable Information

静電気放電に関する注意事項

TLVH431 TLVH431A TLVH431B TLVH432 TLVH432A TLVH432B この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。