JAJSJH4D december   2010  – september 2020 BQ24133

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Description (continued)
  7. 6 Device Comparison Table
  8. 7 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  9. 8 Specifications
    1. 8.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 8.2 ESD Ratings
    3. 8.3 Recommended Operating Conditions
    4. 8.4 Thermal Information
    5. 8.5 Electrical Characteristics
    6. 8.6 Typical Characteristics
  10. 9 Detailed Description
    1. 9.1 Overview
    2. 9.2 Functional Block Diagram
    3. 9.3 Feature Description
      1. 9.3.1  Battery Voltage Regulation
      2. 9.3.2  Battery Current Regulation
      3. 9.3.3  Battery Precharge Current Regulation
      4. 9.3.4  Input Current Regulation
      5. 9.3.5  Charge Termination, Recharge, And Safety Timers
      6. 9.3.6  Power Up
      7. 9.3.7  Input Undervoltage Lockout (UVLO)
      8. 9.3.8  Input Overvoltage/Undervoltage Protection
      9. 9.3.9  Enable and Disable Charging
      10. 9.3.10 System Power Selector
      11. 9.3.11 Converter Operation
      12. 9.3.12 Automatic Internal Soft-Start Charger Current
      13. 9.3.13 Charge Overcurrent Protection
      14. 9.3.14 Charge Undercurrent Protection
      15. 9.3.15 Battery Detection
        1. 9.3.15.1 Example
      16. 9.3.16 Battery Short Protection
      17. 9.3.17 Battery Overvoltage Protection
      18. 9.3.18 Temperature Qualification
      19. 9.3.19 MOSFET Short Circuit and Inductor Short Circuit Protection
      20. 9.3.20 Thermal Regulation and Shutdown Protection
      21. 9.3.21 Timer Fault Recovery
      22. 9.3.22 Charge Status Outputs
    4. 9.4 Device Functional Modes
  11. 10Application and Implementation
    1. 10.1 Application Information
    2. 10.2 Typical Application
      1. 10.2.1 Design Requirements
      2. 10.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 10.2.2.1 Inductor Selection
        2. 10.2.2.2 Input Capacitor
        3. 10.2.2.3 Output Capacitor
        4. 10.2.2.4 Input Filter Design
        5. 10.2.2.5 Input ACFET and RBFET Selection
        6. 10.2.2.6 Inductor, Capacitor, and Sense Resistor Selection Guidelines
      3. 10.2.3 Application Curve
    3. 10.3 System Examples
  12. 11Power Supply Recommendations
  13. 12Layout
    1. 12.1 Layout Guidelines
    2. 12.2 Layout Examples
  14. 13Device and Documentation Support
    1. 13.1 Device Support
      1. 13.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 13.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 13.3 サポート・リソース
    4. 13.4 Trademarks
    5. 13.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 13.6 用語集
  15. 14Mechanical, Packaging, and Orderable Information

13.5 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。