JAJSKU3D April   2020  – January 2023 TLV841

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 Revision History
  5. 5 Device Comparison
  6. 6 Pin Configuration and Functions
  7. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Timing Requirements
    7. 7.7 Timing Diagrams
    8. 7.8 Typical Characteristics
  8. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 Input Voltage (VDD)
        1. 8.3.1.1 VDD Hysteresis
        2. 8.3.1.2 VDD Transient Immunity
      2. 8.3.2 SENSE Input (TLV841S)
        1. 8.3.2.1 SENSE Hysteresis
        2. 8.3.2.2 Immunity to SENSE Pin Voltage Transients
      3. 8.3.3 User-Programmable Reset Time Delay for TLV841C only
      4. 8.3.4 Manual Reset (MR) Input for TLV841M only
      5. 8.3.5 Output Logic
        1. 8.3.5.1 RESET Output, Active-Low
        2. 8.3.5.2 RESET Output, Active-High
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Normal Operation (VDD > VPOR)
      2. 8.4.2 Below Power-On-Reset (VDD < VPOR)
  9. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curves: TLV841EVM
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  12. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 Device Nomenclature
    2. 12.2 Documentation Support
      1. 12.2.1 Related Documentation
    3. 12.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 12.4 サポート・リソース
    5. 12.5 Trademarks
    6. 12.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 12.7 用語集
  13. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

12.6 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。