JAJSLU5B December   2021  – August 2024 TPS63901

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Typical Characteristics
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Trapezoidal Current Control
      2. 6.3.2 Device Enable and Disable
      3. 6.3.3 Soft Start
      4. 6.3.4 Input Current Limit
      5. 6.3.5 Dynamic Voltage Scaling
      6. 6.3.6 Device Configuration (Resistor-to-Digital Interface)
      7. 6.3.7 SEL Pin
      8. 6.3.8 Short-Circuit Protection
        1. 6.3.8.1 Current Limit Setting = 'Unlimited'
        2. 6.3.8.2 Current Limit Setting = 1 mA to 100 mA
      9. 6.3.9 Thermal Shutdown
    4. 6.4 Device Functional Modes
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Design Requirements
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.2.1 Inductor Selection
        2. 7.2.2.2 Output Capacitor Selection
        3. 7.2.2.3 Input Capacitor Selection
        4. 7.2.2.4 Setting The Output Voltage
      3. 7.2.3 Application Curves
  9. 8 Power Supply Recommendations
  10. 9 Layout
    1. 9.1 Layout Guidelines
    2. 9.2 Layout Example
  11. 10Device and Documentation Support
    1. 10.1 Device Support
      1. 10.1.1 Third-Party Products Disclaimer
    2. 10.2 Documentation Support
      1. 10.2.1 Related Documentation
    3. 10.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 10.4 サポート・リソース
    5. 10.5 Trademarks
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 用語集
  12. 11Revision History
  13. 12Mechanical, Packaging, and Orderable Information

10.6 静電気放電に関する注意事項

TPS63901 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。