JAJSQU6A January   2024  – June 2024 TPS56837H

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Typical Characteristics
  7. Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1  The Adaptive On-Time Control and PWM Operation
      2. 6.3.2  Mode Selection
      3. 6.3.3  Eco-mode Control Scheme
      4. 6.3.4  Soft Start and Prebiased Soft Start
      5. 6.3.5  Enable and Adjusting Undervoltage Lockout
      6. 6.3.6  Output Overcurrent Limit and Undervoltage Protection
      7. 6.3.7  Overvoltage Protection
      8. 6.3.8  UVLO Protection
      9. 6.3.9  Thermal Shutdown
      10. 6.3.10 Output Voltage Discharge
      11. 6.3.11 Power Good
      12. 6.3.12 Large Duty Operation
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Standby Operation
      2. 6.4.2 Light Load Operation
  8. Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Design Requirements
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.2.1 Output Voltage Resistors Selection
        2. 7.2.2.2 Output Filter Selection
        3. 7.2.2.3 Input Capacitor Selection
        4. 7.2.2.4 Bootstrap Capacitor Selection
      3. 7.2.3 Application Curves
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
  9. Device and Documentation Support
    1. 8.1 Documentation Support
      1. 8.1.1 Related Documentation
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  10. Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

静電気放電に関する注意事項

TPS56837H TPS56837HA この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。