JAJSTU7H August   2007  – July 2024 CDCE937 , CDCEL937

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Timing Requirements: CLK_IN
    7. 5.7 Timing Requirements: SDA/SCL
    8. 5.8 EEPROM Specification
    9. 5.9 Typical Characteristics
  7. 6 Parameter Measurement Information
  8. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Control Terminal Setting
      2. 7.3.2 Default Device Setting
      3. 7.3.3 SDA/SCL Serial Interface
      4. 7.3.4 Data Protocol
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 SDA/SCL Hardware Interface
    5. 7.5 Programming
  9. 8 Register Maps
    1. 8.1 SDA/SCL Configuration Registers
  10. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.2.1 Spread Spectrum Clock (SSC)
        2. 9.2.2.2 PLL Frequency Planning
        3. 9.2.2.3 Crystal Oscillator Start-Up
        4. 9.2.2.4 Frequency Adjustment With Crystal Oscillator Pulling
        5. 9.2.2.5 Unused Inputs and Outputs
        6. 9.2.2.6 Switching Between XO and VCXO Mode
      3. 9.2.3 Application Curves
  11. 10Power Supply Recommendations
  12. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  13. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 Device Support
      1. 12.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
      2. 12.1.2 Development Support
    2. 12.2 Documentation Support
      1. 12.2.1 Related Documentation
    3. 12.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 12.4 サポート・リソース
    5. 12.5 Trademarks
    6. 12.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 12.7 用語集
  14. 13Revision History
  15. 14Mechanical, Packaging, and Orderable Information

12.6 静電気放電に関する注意事項

CDCE937 CDCEL937 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。