JAJSUF8C April 2024 – October 2024 ISOM8110-Q1 , ISOM8111-Q1 , ISOM8112-Q1 , ISOM8113-Q1 , ISOM8115-Q1 , ISOM8116-Q1 , ISOM8117-Q1 , ISOM8118-Q1
PRODUCTION DATA
| パラメータ | テスト条件 | 値 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|
| 4-DFG、4-DFH |
||||
| IEC 60664-1 | ||||
| CLR | 外部空間距離(1) | 空気を通したサイド 1 とサイド 2 の距離 | > 5 | mm |
| CPG | 外部沿面距離(1) | パッケージ表面上でのサイド 1 とサイド 2 の距離 | > 5 | mm |
| DTI | 絶縁物を介した距離 | 最小内部ギャップ (内部空間距離) | >17 | μm |
| CTI | 比較トラッキング インデックス | IEC 60112、UL 746A | >400 | V |
| 材料グループ | IEC 60664-1 に準拠 | II | ||
| IEC 60664-1 に準拠した過電圧カテゴリ | 定格商用電源 VRMS が 150V 以下 | I-IV | ||
| 定格商用電源 VRMS が 300V 以下 | I-IV | |||
| 定格商用電源 VRMS が 600V 以下 | I-III | |||
| DIN VDE V 0884-11:2017 (6) | ||||
| VIORM | 最大反復ピーク絶縁電圧 | AC 電圧 (バイポーラ) | 707 | VPK |
| VIOWM | 最大絶縁動作電圧 | AC 電圧 (正弦波)、絶縁膜経時破壊 (TDDB) テスト | 500 | VRMS |
| DC 電圧 | 707 | VDC | ||
| VIOTM | 最大過渡絶縁電圧 | VTEST = VIOTM、 t = 60s (認定)、 VTEST = 1.2 × VIOTM、 t = 1s (100% 出荷時テスト) |
5303 | VPK |
| VIMP | 最大インパルス電圧 (2) | 気中でテスト、IEC 62368-1 に準拠した 1.2/50μs の波形 | 7200 | VPK |
| VIOSM | 最大サージ絶縁電圧(3) | VISOM ≧ 1.3 × VIMP、油中でテスト (認定試験)、IEC 62368-1 に準拠した 1.2/50μs 波形 | 10000 | VPK |
| qpd | 見掛けの電荷(4) | 方法 a：I/O 安全テスト サブグループ 2/3 の後、Vini = VIOTM、tini = 60s、Vpd(m) = 1.2 × VIORM、tm = 10s | ≤ 5 | pC |
| 方法 a：環境テスト サブグループ 1 の後、Vini = VIOTM、tini = 60s、 Vpd(m) = 1.6 × VIORM、tm = 10s |
≤ 5 | |||
| メソッド b：ルーチン テスト (100% 出荷時) および事前条件設定 (タイプ テスト) で、Vini = 1.2 × VIOTM、tini = 1s、 Vpd(m) = 1.875 × VIORM、tm = 1s |
≤ 5 | |||
| CIO | 絶縁バリア容量、入力から出力へ(5) | VIO = 0.4 × sin (2πft)、f = 1MHz | 1 | pF |
| RIO | 絶縁抵抗、入力から出力へ(5) | VIO = 500V、TA = 25℃ | > 1012 | Ω |
| VIO = 500V (100℃ ≦ TA ≦ 125℃時) | > 1011 | |||
| VIO = 500V (TS = 150℃時) | > 109 | |||
| 汚染度 | 2 | |||
| 耐候性カテゴリ | 40/125/21 | |||
| UL 1577 | ||||
| VISO | 絶縁耐圧 | VTEST = VISO、t = 60s (認定)、VTEST = 1.2 × VISO、t = 1s (100% 出荷時テスト) | 3750 | VRMS |