JAJSVH7A October   2024  – November 2024 TPS61287

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Pin Configuration and Functions
  6. 5 Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Typical Characteristics
  7. 6 Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
      1. 6.3.1 Enable and Start-up
      2. 6.3.2 Undervoltage Lockout (UVLO)
      3. 6.3.3 Programmable EN/UVLO
      4. 6.3.4 Switching Valley Current Limit
      5. 6.3.5 External Clock Synchronization
      6. 6.3.6 Stackable Multi-phase Operation
      7. 6.3.7 Device Functional Modes
        1. 6.3.7.1 Forced PWM Mode
        2. 6.3.7.2 Auto PFM Mode
      8. 6.3.8 Overvoltage Protection
      9. 6.3.9 Thermal Shutdown
  8. 7 Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Design Requirements
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.2.1 Setting Output Voltage
        2. 7.2.2.2 Inductor Selection
        3. 7.2.2.3 Bootstrap And VCC Capacitors Selection
        4. 7.2.2.4 MOSFET Selection
        5. 7.2.2.5 Input Capacitor Selection
        6. 7.2.2.6 Output Capacitor Selection
        7. 7.2.2.7 Loop Stability
      3. 7.2.3 Application Curves
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
        1. 7.4.2.1 Thermal Considerations
  9. 8 Device and Documentation Support
    1. 8.1 Receiving Notification of Documentation Updates
    2. 8.2 サポート・リソース
    3. 8.3 Trademarks
    4. 8.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 8.5 用語集
  10. 9 Revision History
  11. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information

8.4 静電気放電に関する注意事項

TPS61287 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。