JAJSVN6 November   2024 TCAN2845-Q1 , TCAN2847-Q1

ADVANCE INFORMATION  

  1.   1
  2. 1特長
  3. 2アプリケーション
  4. 3概要
  5. 4デバイス比較表
  6. 5ピン構成および機能
  7. 6デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 6.1 ドキュメントのサポート
      1. 6.1.1 CAN トランシーバの物理層の規格：
      2. 6.1.2 LIN トランシーバ物理層の規格
      3. 6.1.3 EMC 要件：
      4. 6.1.4 適合テストの要件：
      5. 6.1.5 関連資料
    2. 6.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 6.3 サポート・リソース
    4. 6.4 商標
    5. 6.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 6.6 用語集
  8. 7改訂履歴
  9. 8メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1. 8.1 テープおよびリール情報
    2. 8.2 メカニカル データ

6.5 静電気放電に関する注意事項

TCAN2845-Q1 TCAN2847-Q1 この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。