CD4081B

AKTIV

UND-Gatter, 4 Kanäle, 2 Eingänge, 3 bis 18 V

Produktdetails

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Medium-Speed Operation - tPLH, tPHL = 60 ns (typ.) at VDD = 10 V
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range: 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"

CD4073B Triple 3-Input AND Gate
CD4081B Quad 2-Input AND Gate
CD4082B Dual 4-Input AND Gate
Data sheet acquired from Harris Semiconductor

  • Medium-Speed Operation - tPLH, tPHL = 60 ns (typ.) at VDD = 10 V
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range: 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"

CD4073B Triple 3-Input AND Gate
CD4081B Quad 2-Input AND Gate
CD4082B Dual 4-Input AND Gate
Data sheet acquired from Harris Semiconductor

CD4073B, CD4081B and CD4082B AND gates, provide the system designer with direct implementation of the AND function and supplement the existing family of CMOS gates.

The CD4073B, CD4081B, and CD4082B types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4073B, CD4081B and CD4082B AND gates, provide the system designer with direct implementation of the AND function and supplement the existing family of CMOS gates.

The CD4073B, CD4081B, and CD4082B types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

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Technische Dokumentation

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Typ Titel Datum
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Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

14-24-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14-polige bis 24-polige D-, DB-, DGV-, DW-, DYY-, NS-

Das 14-24-LOGIC-EVM-Evaluierungsmodul (EVM) ist für die Unterstützung aller Logikgeräte konzipiert, die sich in einem 14-Pin- bis 24-Pin-D-, DW-, DB-, NS-, PW-, DYY- oder DGV-Gehäuse befinden.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Simulationsmodell

CD4081B Behavioral SPICE Model (Rev. A)

SCHM010A.ZIP (7 KB) - PSpice Model
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Referenzdesigns

TIDA-01051 — Referenzdesign zur Optimierung der FPGA-Auslastung und des Datendurchsatzes für automatische Prüfger

The TIDA-01051 reference design is used to demonstrate optimized channel density, integration, power consumption, clock distribution and signal chain performance of very high channel count data acquisition (DAQ) systems such as those used in automatic test equipment (ATE). Using serializers, such (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

Support und Schulungen

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