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SN74AC11-EP

AKTIV

Highspeed-UND-Gatter (7 ns) mit 24-mA-Treiberstärke, 3 Kanäle, 3 Eingänge, 2 V bis 6 V (Verbessertes

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SN74AC11-EP

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Produktdetails

Technology family AC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family AC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7.5 ns at 5 V

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
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  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7.5 ns at 5 V

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The SN74AC11 device contains three independent 3-input AND gates. This device performs the Boolean function Y = A • B • C or Y = (A\ + B\ + C\)\ in positive logic.

The SN74AC11 device contains three independent 3-input AND gates. This device performs the Boolean function Y = A • B • C or Y = (A\ + B\ + C\)\ in positive logic.
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Technische Dokumentation

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Alle anzeigen 14
Typ Titel Datum
* Data sheet SN74AC11-EP datasheet 06 Jan 2004
* VID SN74AC11-EP VID V6204701 21 Jun 2016
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Application note Live Insertion 01 Okt 1996
Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 01 Apr 1996

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
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