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CD4011A

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Puertas NAND de grado militar de 4 canales, 2 entradas, 3 V a 12 V

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CD4011A

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Detalles del producto

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 12 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 0.62 IOH (max) (mA) -0.75 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 20 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 12 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 0.62 IOH (max) (mA) -0.75 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 20 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67 CDIP_SB (JD) 14 138.9395 mm² 18.55 x 7.49
  • Quiescent current specified to 15V
  • Maximum input leakage of 1 uA at 15 V (full package-temperature range)
  • 1-V noise margin (full package-temperature range)
  • Quiescent current specified to 15V
  • Maximum input leakage of 1 uA at 15 V (full package-temperature range)
  • 1-V noise margin (full package-temperature range)

The TI-CD4011A, CD4012A, and CD4023A NAND gates provide the system designer with direct implementation of the NAND function and supplement the existing family of CMOS gates

These types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (D and F suffixes), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead ceramic flat packages (K suffix), and in chip form (H suffix).

The TI-CD4011A, CD4012A, and CD4023A NAND gates provide the system designer with direct implementation of the NAND function and supplement the existing family of CMOS gates

These types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (D and F suffixes), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead ceramic flat packages (K suffix), and in chip form (H suffix).
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet CMOS NAND Gates datasheet 15 nov 2001
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 14 nov 2003
Application note Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 03 dic 2001

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
CDIP (J) 14 Ultra Librarian
CDIP_SB (JD) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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