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CD4019B-MIL

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Puerta de selección AND OR con CMOS cuádruple

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CD4019B-MIL

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Detalles del producto

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 1.5 IOH (max) (mA) -1.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 1.5 IOH (max) (mA) -1.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • Medium speed operation……tPHL = tPLH = 60 ns (typ.) at CL = 50 pF, VDD = 10 V
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
            1 V at VDD = 5 V
            2 V at VDD = 10 V
         2.5 V at VDD = 15 V
  • Applications:
    • AND-OR select gating
    • Shift-right/shift-left registers
    • True/complement selection
    • AND/OR/Exclusive-OR selection
  • Medium speed operation……tPHL = tPLH = 60 ns (typ.) at CL = 50 pF, VDD = 10 V
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
            1 V at VDD = 5 V
            2 V at VDD = 10 V
         2.5 V at VDD = 15 V
  • Applications:
    • AND-OR select gating
    • Shift-right/shift-left registers
    • True/complement selection
    • AND/OR/Exclusive-OR selection

CD4019B types consist of four AND/OR select gate configurations, each consisting of two 2-input AND gates driving a single-input OR gate. Selection is accomplished by control bits Ka and Kb. In addition to selection of either channel A or channel B information, the control bits can be applied simultaneously to accomplish the logical A + B function.

The CD4019B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4019B types consist of four AND/OR select gate configurations, each consisting of two 2-input AND gates driving a single-input OR gate. Selection is accomplished by control bits Ka and Kb. In addition to selection of either channel A or channel B information, the control bits can be applied simultaneously to accomplish the logical A + B function.

The CD4019B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD4019B TYPES datasheet (Rev. C) 15 oct 2003
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 14 nov 2003
Application note Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 03 dic 2001

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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