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SN54SC245-SEP

ACTIVO

Transceptor de bus octal de 1.2 V a 5.5 V con salidas de 3 estados en plástico mejorado de grado

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SN54SC245-SEP

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Detalles del producto

Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification

SN54SC245-SEP is an octal bus transceiver with 3-state outputs. All eight channels are controlled by the direction (DIR) pin and output enable ( OE) pin. The output enable ( OE) controls all outputs in the device. When the OE pin is in the low state, the appropriate outputs as determined by the direction (DIR) pin are enabled. When the OE pin is in the high state, all outputs of the device are disabled. All disabled outputs are placed into the high-impedance state.

SN54SC245-SEP is an octal bus transceiver with 3-state outputs. All eight channels are controlled by the direction (DIR) pin and output enable ( OE) pin. The output enable ( OE) controls all outputs in the device. When the OE pin is in the low state, the appropriate outputs as determined by the direction (DIR) pin are enabled. When the OE pin is in the high state, all outputs of the device are disabled. All disabled outputs are placed into the high-impedance state.
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Documentación técnica

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* Data sheet SN54SC245-SEP Radiation-Tolerant, 1.2-V to 5.5-V, Octal Bus TransceiversWith 3-State Outputs datasheet PDF | HTML 23 ago 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Single Event Latch-Up Report PDF | HTML 17 oct 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Reliability Report PDF | HTML 23 ago 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 16 ago 2023
Application brief TI Space Enhanced Plastic Logic Overview and Applications in Low-Earth Orbit Satellite Platforms PDF | HTML 10 sep 2024

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)/reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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