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NUEVO

SN54SC245-SEP

ACTIVO

Transceptor de bus octal de 1.2 V a 5.5 V con salidas de 3 estados en plástico mejorado de grado

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SN54SC245-SEP

ACTIVO
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Detalles del producto

Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN54SC245-SEP Radiation-Tolerant, 1.2-V to 5.5-V, Octal Bus TransceiversWith 3-State Outputs datasheet PDF | HTML 28 jun 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Single Event Latch-Up Report PDF | HTML 17 oct 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Reliability Report PDF | HTML 23 ago 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 16 ago 2023

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

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