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SN74AHC1G00

ACTIVO

Puerta NAND simple de 2 entradas individuales, de 2 V a 5.5 V

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SN74AHC1G00

ACTIVO
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Detalles del producto

Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-5X3 (DRL) 5 2.56 mm² 1.6 x 1.6 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Operating range: 2 V to 5.5 V
  • Maximum tpd of 6.5 ns at 5 V
  • Low power consumption: maximum ICC of 10 µA
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Schmitt trigger action at all inputs makes the circuit tolerant for slower input rise and fall time
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Operating range: 2 V to 5.5 V
  • Maximum tpd of 6.5 ns at 5 V
  • Low power consumption: maximum ICC of 10 µA
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Schmitt trigger action at all inputs makes the circuit tolerant for slower input rise and fall time
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The SN74AHC1G00 performs the Boolean function Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

The SN74AHC1G00 performs the Boolean function Y = A • B or Y = A + B in positive logic.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación lógica genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV de 5 a 8 pines

Módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV en un recuento de 5 a 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74AHC1G00 Behavioral SPICE Model

SCLM277.ZIP (7 KB) - PSpice Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G00 IBIS Model

SCLM001.ZIP (13 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G00H IBIS Model

SCLM020.ZIP (7 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G00H IBIS Model

SCLM021.ZIP (6 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G00H IBIS Model

SCLM022.ZIP (7 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G00H IBIS Model

SCLM023.ZIP (6 KB) - IBIS Model
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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-5X3 (DRL) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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