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SN74AHC1G09-Q1

ACTIVO

Compuerta AND de alta velocidad (9 ns) de 2 entradas de 2 V a 5.5 V automotriz, de 1 canal, con s

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SN74AHC1G09-Q1

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Detalles del producto

Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Open-drain Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Open-drain Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, T A
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classification Level C6
  • Operating range from 2 V to 5.5 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum I CC
  • Maximum t pd of 6 ns at 5 V
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, T A
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classification Level C6
  • Operating range from 2 V to 5.5 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum I CC
  • Maximum t pd of 6 ns at 5 V
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The SN74AHC1G09-Q1 is a single 2-input positive-AND gate with an open drain output configuration. The device performs the Boolean logic Y = A × B in positive logic.

The SN74AHC1G09-Q1 is a single 2-input positive-AND gate with an open drain output configuration. The device performs the Boolean logic Y = A × B in positive logic.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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