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SN74AHC1G86

ACTIVO

Puerta XOR (OR exclusiva) única de 2 entradas, de 2 V a 5.5 V

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SN74AHC1G86

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Detalles del producto

Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -8 Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -8 Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-5X3 (DRL) 5 2.56 mm² 1.6 x 1.6 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Max tpd of 8ns at 5V
  • Low power consumption, 10µA max ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Schmitt-trigger action at all inputs makes the circuit tolerant for slower input rise and fall time
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Max tpd of 8ns at 5V
  • Low power consumption, 10µA max ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Schmitt-trigger action at all inputs makes the circuit tolerant for slower input rise and fall time
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17

The SN74AHC1G86 is a single 2-input exclusive-OR gate. The device performs the Boolean function Y = A × B or Y = AB + A B in positive logic.

The SN74AHC1G86 is a single 2-input exclusive-OR gate. The device performs the Boolean function Y = A × B or Y = AB + A B in positive logic.

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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación lógica genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV de 5 a 8 pines

Módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV en un recuento de 5 a 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

TUSB216IEVM — Módulo de evaluación de acondicionador de señal de alta velocidad USB 2.0 TUSB216I

El módulo de evaluación TUSB216I puede utilizarse para evaluar las capacidades de acondicionamiento de señales del dispositivo TUSB216I para diversas aplicaciones.
Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

TUSB217AEVM-BC — Acondicionador de señal de alta velocidad USB 2.0 con módulo de evaluación de carga de batería TUSB2

El módulo de evaluación TUSB217AEVM-BC puede utilizarse para evaluar las capacidades de acondicionamiento de señales del dispositivo TUSB217A para diversas aplicaciones.
Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74AHC1G86 Behavioral SPICE Model

SCLM267.ZIP (7 KB) - PSpice Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G86 IBIS Model

SCLM007.ZIP (13 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G86H IBIS Model

SCLM044.ZIP (7 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G86H IBIS Model

SCLM045.ZIP (6 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G86H IBIS Model

SCLM046.ZIP (7 KB) - IBIS Model
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Modelo de simulación

SN74AHC1G86H IBIS Model

SCLM047.ZIP (6 KB) - IBIS Model
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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-5X3 (DRL) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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