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SN74F10

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Puertas NAND bipolares de 3 canales, 3 entradas, de 4.5 V a 5.5 V

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SN74F10

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Detalles del producto

Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
Technology family F Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 20 IOH (max) (mA) -1 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs

These devices contain three independent 3-input NAND gates. They perform the Boolean functionsor in positive logic.

The SN54F10 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F10 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

These devices contain three independent 3-input NAND gates. They perform the Boolean functionsor in positive logic.

The SN54F10 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F10 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet Triple 3-Input Positive-NAND Gates datasheet (Rev. A) 01 oct 1993

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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