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SN74HCS164-Q1

ACTIVO

Registro de desplazamiento de entrada en serie con salida paralela de 8 bits de calidad automotriz

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SN74HCS164-Q1

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Detalles del producto

Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 62 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 62 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOT-23-THN (DYY) 14 13.692 mm² 4.2 x 3.26 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • ±7.8-mA output drive at 6 V
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • ±7.8-mA output drive at 6 V

The SN74HCS164-Q1 device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. The gated serial (A and B) inputs permit complete control over incoming data; a low at either input inhibits entry of the new data and resets the first flip-flop to the low level at the next clock (CLK) pulse. A high-level input enables the other input, which then determines the state of the first flip-flop. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum set-up time requirements are met. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK. All inputs include Schmitt-triggers, eliminating any erroneous data outputs due to slow-edged or noisy input signals.

The SN74HCS164-Q1 device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. The gated serial (A and B) inputs permit complete control over incoming data; a low at either input inhibits entry of the new data and resets the first flip-flop to the low level at the next clock (CLK) pulse. A high-level input enables the other input, which then determines the state of the first flip-flop. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum set-up time requirements are met. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK. All inputs include Schmitt-triggers, eliminating any erroneous data outputs due to slow-edged or noisy input signals.
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74HCS164-Q1 Automotive 8-Bit Parallel-Out Serial Shift Registers With Schmitt-Trigger Inputs datasheet (Rev. C) PDF | HTML 16 dic 2021
Application brief Optimizing Body Control Modules (BCMs) Using Logic and Translation PDF | HTML 19 oct 2022
Application note Designing with Shift Registers PDF | HTML 14 jul 2022

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74HCS164 IBIS Model (Rev. A)

SCEM772A.ZIP (51 KB) - IBIS Model
Descargar
Modelo de simulación

SN74HCS164-Q1 IBIS Model (Rev. A)

SCLM333A.ZIP (51 KB) - IBIS Model
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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOT-23-THN (DYY) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

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El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

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