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SN74LV1T08-Q1

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Compuerta AND positivas de dos entradas, con fuente de alimentación única y selector de nivel lógico

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SN74LV1T08-Q1

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Detalles del producto

Technology family LV1T Number of channels 1 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 1000 IOH (max) (mA) -8 IOL (max) (mA) 8 Features Balanced outputs, Single supply, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LV1T Number of channels 1 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 1000 IOH (max) (mA) -8 IOL (max) (mA) 8 Features Balanced outputs, Single supply, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Wide operating range of 1.8 V to 5.5 V

  • Single-supply voltage translator (refer to LVxT Enhanced Input Voltage):

    • Up translation:

      • 1.2-V to 1.8-V

      • 1.5-V to 2.5-V

      • 1.8-V to 3.3-V

      • 3.3-V to 5.0-V

    • Down translation:

      • 5.0-V, 3.3-V, 2.5-V to 1.8-V
      • 5.0-V, 3.3-V to 2.5-V
      • 5.0-V to 3.3-V
  • 5.5-V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5-V or 3.3-V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250 mAper JESD 17

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Wide operating range of 1.8 V to 5.5 V

  • Single-supply voltage translator (refer to LVxT Enhanced Input Voltage):

    • Up translation:

      • 1.2-V to 1.8-V

      • 1.5-V to 2.5-V

      • 1.8-V to 3.3-V

      • 3.3-V to 5.0-V

    • Down translation:

      • 5.0-V, 3.3-V, 2.5-V to 1.8-V
      • 5.0-V, 3.3-V to 2.5-V
      • 5.0-V to 3.3-V
  • 5.5-V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5-V or 3.3-V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250 mAper JESD 17

The SN74LV1T08-Q1 is a 2-input AND Gate. Each gate performs the Boolean function Y = A × B in positive logic. The output level is referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2-V input to 1.8-V output or 1.8-V input to 3.3-V output). In addition, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3-V to 2.5-V output).

The SN74LV1T08-Q1 is a 2-input AND Gate. Each gate performs the Boolean function Y = A × B in positive logic. The output level is referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2-V input to 1.8-V output or 1.8-V input to 3.3-V output). In addition, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3-V to 2.5-V output).
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74LV1T08-Q1 Automotive 2-Input Positive-AND Gates With Integrated Translation datasheet (Rev. A) PDF | HTML 19 ene 2024

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un empaquetado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación lógica genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV de 5 a 8 pines

Módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV en un recuento de 5 a 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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