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SN74LVC132A-Q1

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Compuertas NAND positivas cuádruples con entradas de disparador Schmitt para automoción

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SN74LVC132A-Q1

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Detalles del producto

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Available in wettable flank QFN (WBQA) package

  • Operating range from 1.1V to 3.6V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000V Human-Body Model (A114-A)
    • 1000V Charged-Device Model (C101)

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Available in wettable flank QFN (WBQA) package

  • Operating range from 1.1V to 3.6V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000V Human-Body Model (A114-A)
    • 1000V Charged-Device Model (C101)

The SN74LVC132A-Q1 device is a quadruple positive-NAND gate with Schmitt-trigger inputs for added noise immunity and support for slow input signal transitions. Each gate performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B in positive logic.

The SN74LVC132A-Q1 device is a quadruple positive-NAND gate with Schmitt-trigger inputs for added noise immunity and support for slow input signal transitions. Each gate performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B in positive logic.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74LVC132A-Q1 Automotive Quadruple 2-Input NAND Gates with Schmitt-Trigger Inputs datasheet PDF | HTML 02 may 2024
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Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 jun 1997
Application note LVC Characterization Information 01 dic 1996
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Design guide Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 01 sep 1996
Application note Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 01 may 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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