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SN74LVC2G02

ACTIVO

Puertas NOR de 2 canales, 2 entradas, 1.65 V a 5.5 V

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SN74LVC2G02

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Detalles del producto

Technology family LVC Number of channels 2 Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant Inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Number of channels 2 Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant Inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
DSBGA (YZP) 8 2.8125 mm² 2.25 x 1.25 SSOP (DCT) 8 11.8 mm² 2.95 x 4 VSSOP (DCU) 8 6.2 mm² 2 x 3.1
  • Available in the Texas Instruments
    NanoFree™ package
  • Supports 5-V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5 V
  • Max tpd of 4.9 ns at 3.3 V
  • Low power consumption, 10-µA Max ICC
  • ±24-mA Output drive at 3.3 V
  • Typical VOLP (output ground bounce)
    <0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (output VOH undershoot)
    >2 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 100 mA er JESD 78, class II
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-body model (A114-A)
    • 1000-V Charged-device model (C101)
  • Available in the Texas Instruments
    NanoFree™ package
  • Supports 5-V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5 V
  • Max tpd of 4.9 ns at 3.3 V
  • Low power consumption, 10-µA Max ICC
  • ±24-mA Output drive at 3.3 V
  • Typical VOLP (output ground bounce)
    <0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (output VOH undershoot)
    >2 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 100 mA er JESD 78, class II
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-body model (A114-A)
    • 1000-V Charged-device model (C101)

This dual 2-input positive-NOR gate is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC2G02 device performs the Boolean function Y = A + B or Y = A × B in positive logic.

NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

This dual 2-input positive-NOR gate is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC2G02 device performs the Boolean function Y = A + B or Y = A × B in positive logic.

NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
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Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación lógica genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV de 5 a 8 pines

Módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV en un recuento de 5 a 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74LVC2G02 Behavioral SPICE Model

SCEM624.ZIP (7 KB) - PSpice Model
Descargar
Modelo de simulación

SN74LVC2G02 IBIS Model (Rev. A)

SCEM287A.ZIP (52 KB) - IBIS Model
Descargar
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
DSBGA (YZP) 8 Ultra Librarian
SSOP (DCT) 8 Ultra Librarian
VSSOP (DCU) 8 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

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