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AFE3256

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X 線フラットパネルのダイナミック検出器とセミダイナミック検出器向け、256 チャンネル、アナログ フロント エンド (AFE)

製品詳細

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TFU) 320 1064 mm² 38 x 28 COF (TFV) 315 831.84 mm² 48 x 17.33
  • 256 チャネル
  • オンチップの 16 ビット ADC
  • 高性能:
    • ノイズ:440 エレクトロン RMS (1.2pC 入力電荷範囲)
    • 低い相互関連ノイズ
    • フルチャネル積分非直線性:16 ビットで ±2LSB
    • スキャン時間:16µs~204.8µs 未満
  • 積算:
    • プログラムマブルなフルスケール入力電荷範囲:0.3pC~12.5pC、分解能 0.3pC
    • 内部タイミング ジェネレータ (TG)
    • 内蔵の相互関連付けダブル サンプラー
    • ソフトウェアでプログラマブルな電子 / 正孔積算モード
    • パイプライン化された積算と読み取りによるスループット向上 - 積算中にデータを読み取り
    • シリアル LVDS 出力
    • オンチップ温度センサ
  • シンプルな電源方式:
    • 1.85V 単一電源動作
  • 消費電力が 1mW/ch~2mW/ch の範囲の複数の電力モード
  • パワーダウン モード:スリープおよびスタンバイ
  • ビニング モードのサポート
  • カスタム COF (Chip-On-Film) パッケージ
  • 256 チャネル
  • オンチップの 16 ビット ADC
  • 高性能:
    • ノイズ:440 エレクトロン RMS (1.2pC 入力電荷範囲)
    • 低い相互関連ノイズ
    • フルチャネル積分非直線性:16 ビットで ±2LSB
    • スキャン時間:16µs~204.8µs 未満
  • 積算:
    • プログラムマブルなフルスケール入力電荷範囲:0.3pC~12.5pC、分解能 0.3pC
    • 内部タイミング ジェネレータ (TG)
    • 内蔵の相互関連付けダブル サンプラー
    • ソフトウェアでプログラマブルな電子 / 正孔積算モード
    • パイプライン化された積算と読み取りによるスループット向上 - 積算中にデータを読み取り
    • シリアル LVDS 出力
    • オンチップ温度センサ
  • シンプルな電源方式:
    • 1.85V 単一電源動作
  • 消費電力が 1mW/ch~2mW/ch の範囲の複数の電力モード
  • パワーダウン モード:スリープおよびスタンバイ
  • ビニング モードのサポート
  • カスタム COF (Chip-On-Film) パッケージ

AFE3256 は、フラットパネル検出器 (FPD) ベースのデジタル X 線システムの要件を満たすように設計された 256 チャネルのアナログ フロント エンド (AFE) です。このデバイスには 256 のインテグレータ、デュアル バンキング付きの相互関連付けダブル サンプラー (CDS)、および 256:2 のアナログ マルチプレクサが搭載されています。また、このデバイスには 2 つの 16 ビット逐次比較型 (SAR) A/D コンバータ (ADC) も内蔵されています。ADC からのシリアル データは、低電圧差動信号 (LVDS) 形式で利用可能です。

また、このデバイスは一般に読み出し集積回路 (ROIC) とも呼ばれ、複数の電力モードやシステム内デバッグ オプションなどの機能を使用して、システム全体の性能を最適化します。

スリープ モードとスタンバイ モードにより、バッテリ駆動のシステムにとって重要な大幅な省電力が可能になります。

AFE3256 は、フラットパネル検出器 (FPD) ベースのデジタル X 線システムの要件を満たすように設計された 256 チャネルのアナログ フロント エンド (AFE) です。このデバイスには 256 のインテグレータ、デュアル バンキング付きの相互関連付けダブル サンプラー (CDS)、および 256:2 のアナログ マルチプレクサが搭載されています。また、このデバイスには 2 つの 16 ビット逐次比較型 (SAR) A/D コンバータ (ADC) も内蔵されています。ADC からのシリアル データは、低電圧差動信号 (LVDS) 形式で利用可能です。

また、このデバイスは一般に読み出し集積回路 (ROIC) とも呼ばれ、複数の電力モードやシステム内デバッグ オプションなどの機能を使用して、システム全体の性能を最適化します。

スリープ モードとスタンバイ モードにより、バッテリ駆動のシステムにとって重要な大幅な省電力が可能になります。

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技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
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3 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート AFE3256 256 チャネル、デジタル X 線フラットパネル検出器用アナログ フロント エンド データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2024年 8月 7日
証明書 AFE3256EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2023年 9月 18日
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 2022年 3月 18日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

AFE3256EVM — AFE3256 X 線フラットパネル検出器向け、256 チャネル、アナログ フロント エンド (AFE) の評価基板

AFE3256 評価基板 (EVM) は、COF (チップ オン フレックス) パッケージ封止、低消費電力、低ノイズの電荷測定 IC (電荷/デジタル コンバータ) である AFE3256 デバイスの評価に使用できます。この評価基板 (EVM) は 1 枚のアナログ ボードで構成されており、データ キャプチャの目的でこのボードを TSWDC155EVM (FPGA EVM) とシームレスに統合することができます。この評価基板 (EVM) は、必要なすべての制御信号とオンボードの電力生成機能を搭載しているため、必要な外部機器が大幅に少なくなります。また、この評価基板 (EVM) には (...)

ドライバまたはライブラリ

AFE3256-DESIGN AFE3256 design files

AFE3256 datasheet, COF package drawings, EVM GUI/user guide and other design resources
サポート対象の製品とハードウェア

サポート対象の製品とハードウェア

製品
デジタル X 線向け AFE
AFE3256 X 線フラットパネルのダイナミック検出器とセミダイナミック検出器向け、256 チャンネル、アナログ フロント エンド (AFE)
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
COF (TFU) 320 Ultra Librarian
COF (TFV) 315 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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