ESD501
12V bidirectional ultra-low capacitance ESD protection diode for high-speed applications
データシート
ESD501
- IEC 61000-4-2 ESD Protection:
- ±15kV contact discharge
- ±15kV air gap discharge
- IEC 61000-4-5 surge protection:
- 3A (8/20µs)
- I/O capacitance: 0.3pF (typical)
- Ultra low leakage current: 1nA (typical)
- Industry standard 0402 package
The ESD501 is a bidirectional ESD protection diode. The ESD501 is offered in the industry standard 0402 (DFN1006) package, and offers an IEC 61000-4-2 protection level of 15kV. The device can clamp 8/20µs surges with peak pulse currents up to 3A in accordance with the IEC 61000-4-5 standard.
The low capacitance and low leakage current help to ensure protection against transient events in a variety of systems and applications. This protection is key for many applications, such as smaller form factors and faster data speeds, which are becoming more popular over time.
技術資料
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| * | データシート | ESD501 Low Capacitance ESD Diode for RF and ADAS Signal Protection データシート | PDF | HTML | 2024年 11月 15日 |
設計および開発
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評価ボード
ESDEVM — ESD の評価基板
静電気敏感性デバイス (ESD) の評価基板 (EVM) は、TI の ESD 製品ラインアップのほとんどに対応する開発プラットフォームです。この基板には、任意の数のデバイスをテストできるように、従来型の ESD フットプリントがすべて実装されています。デバイスは、適切なフットプリントに半田付けしてからテストすることができます。標準的な高速 ESD ダイオードの場合、インピーダンス制御されたレイアウトを実装することで、S パラメータを受け入れ、基板パターンの埋め込みを解除します。高速ではない ESD ダイオードの場合、テスト (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| X1SON (DPY) | 2 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。