ホーム アンプ 計測アンプ
ホーム
アンプ
計測アンプ

INA111

アクティブ

高速、FET 入力計測アンプ

ご注文はこちら
データシート

INA111

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Number of channels 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 12 Input offset (±) (max) (µV) 500 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 10 Features Low bias current CMRR (min) (dB) 106 Input offset drift (±) (max) (V/°C) 0.000005 Input bias current (±) (max) (nA) 0.02 Iq (typ) (mA) 3.3 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 2 Gain error (±) (max) (%) 0.5 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.005 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 2.3 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -2.3 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -3 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 1
Number of channels 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 12 Input offset (±) (max) (µV) 500 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 10 Features Low bias current CMRR (min) (dB) 106 Input offset drift (±) (max) (V/°C) 0.000005 Input bias current (±) (max) (nA) 0.02 Iq (typ) (mA) 3.3 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 2 Gain error (±) (max) (%) 0.5 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.005 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 2.3 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -2.3 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -3 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 1
  • FET INPUT: IB = 20pA max
  • HIGH SPEED: TS = 4us (G = 100, 0.01%)
  • LOW OFFSET VOLTAGE: 500uV max
  • LOW OFFSET VOLTAGE DRIFT: 5uV/°C max
  • HIGH COMMON-MODE REJECTION: 106dB min
  • 8-PIN PLASTIC DIP, SOL-16 SOIC
  • APPLICATIONS
    • MEDICAL INSTRUMENTATION
    • DATA ACQUISITION
  • FET INPUT: IB = 20pA max
  • HIGH SPEED: TS = 4us (G = 100, 0.01%)
  • LOW OFFSET VOLTAGE: 500uV max
  • LOW OFFSET VOLTAGE DRIFT: 5uV/°C max
  • HIGH COMMON-MODE REJECTION: 106dB min
  • 8-PIN PLASTIC DIP, SOL-16 SOIC
  • APPLICATIONS
    • MEDICAL INSTRUMENTATION
    • DATA ACQUISITION

The INA111 is a high speed, FET-input instrumentation amplifier offering excellent performance.

The INA111 uses a current-feedback topology providing extended bandwidth (2MHz at G = 10) and fast settling time (4us to 0.01% at G = 100). A single external resistor sets any gain from 1 to over 1000.

Offset voltage and drift are laser trimmed for excellent DC accuracy. The INA111's FET inputs reduce input bias current to under 20pA, simplifying input filtering and limiting circuitry.

The INA111 is available in 8-pin plastic DIP, and SOL-16 surface-mount packages, specified for the -40°C to +85°C temperature range.

The INA111 is a high speed, FET-input instrumentation amplifier offering excellent performance.

The INA111 uses a current-feedback topology providing extended bandwidth (2MHz at G = 10) and fast settling time (4us to 0.01% at G = 100). A single external resistor sets any gain from 1 to over 1000.

Offset voltage and drift are laser trimmed for excellent DC accuracy. The INA111's FET inputs reduce input bias current to under 20pA, simplifying input filtering and limiting circuitry.

The INA111 is available in 8-pin plastic DIP, and SOL-16 surface-mount packages, specified for the -40°C to +85°C temperature range.
filter その他の 計測アンプ を検索
ダウンロード

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
INA121 アクティブ FET 入力、低消費電力計測アンプ FET-input with similar bias current and lower bandwidth available in PDIP
INA818 アクティブ ±60V の過電圧保護機能搭載 (ゲイン ピン 1 と 8)、低消費電力 (350μA)、高精度計測アンプ Provides similar bandwith and lower offset voltage

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
1 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート High Speed FET-Input Instrumentation Amplifier データシート 2000年 9月 27日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ