LM76202-Q1
- 車載アプリケーション用に AEC-Q100 認定済み
- 温度グレード 1:-40°C ≤ TA ≤ +125°C
- AEC-Q100-012 短絡信頼性グレード A
- HBM ESD 分類レベル 2
- CDM ESD 分類レベル C6
- 動作電圧:4.2V~60V、絶対最大定格 62V
- –60V までの入力逆極性保護機能内蔵
- バック・ツー・バック MOSFET を内蔵し、合計 RON 150mΩ
- 過渡耐性:最大 65V
- 電流制限を 0.1A~ 2.23A に調整可能
(1A において ±5% 精度) - ISO7637 および ISO16750-2 試験時の負荷保護
- バッテリへの短絡と GND への短絡から保護
- 逆電流ブロックにより出力のバッテリ短絡から保護
- IMON 電流インジケータ出力 (±8.5% 精度)
- 低い静止電流:動作時 285µA、シャットダウン時 16µA
- 可変 UVLO、OVP カットオフ、突入電流制御
- 38V 過電圧クランプ・オプションを出荷時に設定
- 電流を制限するフォルトへの応答オプションを選択可能 (自動再試行、ラッチオフ、サーキット・ブレーカー・モード)
- 使いやすい 16 ピンの HTSSOP パッケージで供給
LM76202-Q1 は、各種保護機能を備えた小型で機能豊富な 60V の統合型理想ダイオードです。入力電源電圧範囲が広いため、12V および 24V の車載用バッテリで動作するアプリケーションを制御できます。このデバイスは最大 ±60V の正負の電源電圧に耐え、負荷を保護できます。負荷、入力電源、デバイスの保護機能は、過電流、突入電流制御、過電圧、低電圧スレッショルドを含めて多くの機能をプログラム可能です。内蔵の堅牢な保護制御ブロックと 60V の定格により、ISO 規格パルス試験を考慮したシステム設計が簡単になります。
シャットダウン・ピンを使うと内蔵 FET のイネーブル/ディセーブルを外部的に制御でき、デバイスを低電流のシャットダウン・モードに移行させることもできます。システム状態の監視と下流負荷の制御のため、フォルト出力と高精度の電流監視出力を備えています。MODE ピンにより、電流を制限する 3 種類のフォルト応答 (サーキット・ブレーカー、ラッチオフ、自動再試行モード) のどれにでも柔軟にデバイスを構成できます。V(IN) および V(OUT) を監視し、V(IN) < (V(OUT)-10mV) のときに逆電流保護を行います。この機能は、出力がバッテリに短絡した障害時に過電圧からシステム・バスを保護し、電力障害およびブラウンアウト状況での電圧ホールドアップ要件を満たすためにも役立ちます。
このデバイスは 5mm × 4.4mm の 16 ピン HTSSOP で供給され、–40℃~+125℃の温度範囲で完全に動作が規定されています。
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技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | LM76202-Q1 過電圧 / 過電流保護機能搭載 60V、2.2A 統合型理想ダイオード データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2019年 9月 6日 |
アプリケーション・ノート | Basics of Ideal Diodes (Rev. B) | PDF | HTML | 2021年 10月 5日 | |||
e-Book(PDF) | 11 Ways to Protect Your Power Path(英語) | 英語版 | 2020年 10月 30日 | |||
ユーザー・ガイド | LM76202-Q1 Evaluation Module (Rev. B) | 2019年 12月 12日 | ||||
アプリケーション概要 | Plug and Play Automotive Protection with Integrated FET Ideal Diode - LM76202-Q1 | 2019年 6月 7日 | ||||
ユーザー・ガイド | LM76202-Q1 Evaluation Module | 2019年 1月 2日 |
設計および開発
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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HTSSOP (PWP) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。