LP2998-Q1
- AEC-Q100 Test Guidance with the following results
(SO PowerPAD-8):- Device HBM ESD Classification Level H1C
- Junction Temperature Range –40°C to 125°C
- 1.35 V Minimum VDDQ
- Source and Sink Current
- Low Output Voltage Offset
- No External Resistors Required
- Linear Topology
- Suspend to Ram (STR) Functionality
- Low External Component Count
- Thermal Shutdown
The LP2998 linear regulator is designed to meet JEDEC SSTL-2 and JEDEC SSTL-18 specifications for termination of DDR-SDRAM and DDR2 memory. The device also supports DDR3 and DDR3L VTT bus termination with VDDQ min of 1.35 V. The device contains a high-speed operational amplifier to provide excellent response to load transients. The output stage prevents shoot through while delivering 1.5 A continuous current and transient peaks up to 3 A in the application as required for DDR-SDRAM termination. The LP2998 also incorporates a VSENSE pin to provide superior load regulation and a VREF output as a reference for the chipset and DIMMs.
An additional feature found on the LP2998 is an active low shutdown (SD) pin that provides Suspend To RAM (STR) functionality. When SD is pulled low the VTT output will tri-state providing a high impedance output, but, VREF will remain active. A power savings advantage can be obtained in this mode through lower quiescent current.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | LP2998/LP2998-Q1 DDR Termination Regulator データシート (Rev. K) | PDF | HTML | 2014年 8月 20日 | ||
EVM ユーザー ガイド (英語) | AN-1813 LP2998 Evaluation Board (Rev. A) | 2013年 5月 7日 |
設計および開発
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LP2998EVAL — LP2998 評価ボード
The LP2998 evaluation board is designed to provide the design Engineer with a fully functional prototype system in which to evaluate the LP2998 in both a static environment and with a complete memory system.
TIDA-00275 — オートモーティブ・クラスター 広範囲電圧入力電源設計
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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HSOIC (DDA) | 8 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。