SN54SC8T541-SEP
- Vendor item drawing available, VID V62/25632-01XE
- Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
- TID characterized up to 50krad(Si)
- TID performance assurance up to 30krad(Si)
- Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
- Radiation - Single-Event Effects (SEE):
- Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
- Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg
-
Wide operating range of 1.2V to 5.5V
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Single-supply voltage translator:
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Up translation:
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1.2V to 1.8V
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1.5V to 2.5V
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1.8V to 3.3V
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3.3V to 5.0V
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Down translation:
- 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
- 5.0V, 3.3V to 2.5V
- 5.0V to 3.3V
-
- 5.5V tolerant input pins
- Supports standard pinouts
- Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
- Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
- Space enhanced plastic:
- Supports defense and aerospace applications
- Controlled baseline
- Au bondwire and NiPdAu lead finish
- Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
- One fabrication, assembly, and test site
- Extended product life cycle
- Product traceability
The SN54SC8T541-SEP contains eight buffers with 3-state outputs. The active low output enable pins (OE1 and OE2) control all eight channels, and are configured so that both must be low for the outputs to be active. When the outputs are enabled, the outputs are actively driven low or high. When the outputs are disabled, the outputs are set into the high-impedance state. The output level is referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8V, 2.5V, 3.3V, and 5V CMOS levels.
The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2V input to 1.8V output or 1.8V input to 3.3V output). In addition, the 5V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3V to 2.5V output).
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | SN54SC8T541-SEP Radiation Tolerant, Octal Buffers and Line Drivers With 3-State Outputs and Logic Level Shifter データシート (Rev. A) | PDF | HTML | 2025年 1月 28日 | ||
アプリケーション・ノート | Schematic Checklist - A Guide to Designing With Fixed or Direction Control Translators | PDF | HTML | 2024年 10月 2日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点