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TLV2774A-EP

アクティブ

エンハンスド製品、クワッド、5.5V、5.1MHz、2.1mV のオフセット、高スルーレート (10.5V/μs) オペアンプ

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比較対象デバイスのアップグレード版機能を搭載した、ドロップイン代替製品
OPA4991-EP アクティブ エンハンスド製品、クワッド、40V、4.5MHz、レール・ツー・レール入出力オペアンプ Rail-to-rail I/O, wider supply range (2.7 V to 40 V), higher gain bandwidth (4.5 MHz), faster slew rate (21 V/µs), lower offset voltage (0.895 mV), lower power (0.56 mA), higher output current (75 mA)

TLV2774A-EP

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製品詳細

Number of channels 4 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 5.5 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 2.5 Rail-to-rail In to V-, Out GBW (typ) (MHz) 5.1 Slew rate (typ) (V/µs) 10.5 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.1 Iq per channel (typ) (mA) 1 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 17 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 2 Input bias current (max) (pA) 60 CMRR (typ) (dB) 96 Iout (typ) (A) 0.04 Architecture CMOS Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) -0.3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.3 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.1 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.1
Number of channels 4 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 5.5 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 2.5 Rail-to-rail In to V-, Out GBW (typ) (MHz) 5.1 Slew rate (typ) (V/µs) 10.5 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.1 Iq per channel (typ) (mA) 1 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 17 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 2 Input bias current (max) (pA) 60 CMRR (typ) (dB) 96 Iout (typ) (A) 0.04 Architecture CMOS Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) -0.3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.3 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.1 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.1
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • High Slew Rate . . . 10.5 V/µs Typ
  • High-Gain Bandwidth . . . 5.1 MHz Typ
  • Supply Voltage Range 2.5 V to 5.5 V
  • Rail-to-Rail Output
  • 360 µV Input Offset Voltage
  • Low Distortion Driving 600- 0.005% THD+N
  • 1 mA Supply Current (Per Channel)
  • 17 nV/Hz Input Noise Voltage
  • 2 pA Input Bias Current
  • Characterized From TA = -55°C to 125°C
  • Micropower Shutdown Mode . . . IDD < 1 µA

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • High Slew Rate . . . 10.5 V/µs Typ
  • High-Gain Bandwidth . . . 5.1 MHz Typ
  • Supply Voltage Range 2.5 V to 5.5 V
  • Rail-to-Rail Output
  • 360 µV Input Offset Voltage
  • Low Distortion Driving 600- 0.005% THD+N
  • 1 mA Supply Current (Per Channel)
  • 17 nV/Hz Input Noise Voltage
  • 2 pA Input Bias Current
  • Characterized From TA = -55°C to 125°C
  • Micropower Shutdown Mode . . . IDD < 1 µA

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The TLV277x CMOS operational amplifier family combines high slew rate and bandwidth, rail-to-rail output swing, high output drive, and excellent dc precision. The device provides 10.5 V/µs of slew rate and 5.1 MHz of bandwidth while only consuming 1 mA of supply current per channel. This ac performance is much higher than current competitive CMOS amplifiers. The rail-to-rail output swing and high output drive make these devices a good choice for driving the analog input or reference of analog-to-digital converters. These devices also have low distortion while driving a 600- load for use in telecom systems.

These amplifiers have a 360-µV input offset voltage, a 17 nV/Hz input noise voltage, and a 2-pA input bias current for measurement, medical, and industrial applications. The TLV277x family is also specified across an extended temperature range (-55°C to 125°C), making it useful for automotive systems.

These devices operate from a 2.5-V to 5.5-V single supply voltage and are characterized at 2.7 V and 5 V. The single-supply operation and low power consumption make these devices a good solution for portable applications.

The TLV277x CMOS operational amplifier family combines high slew rate and bandwidth, rail-to-rail output swing, high output drive, and excellent dc precision. The device provides 10.5 V/µs of slew rate and 5.1 MHz of bandwidth while only consuming 1 mA of supply current per channel. This ac performance is much higher than current competitive CMOS amplifiers. The rail-to-rail output swing and high output drive make these devices a good choice for driving the analog input or reference of analog-to-digital converters. These devices also have low distortion while driving a 600- load for use in telecom systems.

These amplifiers have a 360-µV input offset voltage, a 17 nV/Hz input noise voltage, and a 2-pA input bias current for measurement, medical, and industrial applications. The TLV277x family is also specified across an extended temperature range (-55°C to 125°C), making it useful for automotive systems.

These devices operate from a 2.5-V to 5.5-V single supply voltage and are characterized at 2.7 V and 5 V. The single-supply operation and low power consumption make these devices a good solution for portable applications.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Family of 2.7 V High-Slew-Rate Rail-to-Rail Output Op Amps w/Shutdown データシート (Rev. A) 2007年 9月 6日
e-Book（PDF） The Signal - オペアンプ設計ブログ集 英語版 2018年 3月 23日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

AMP-PDK-EVM — アンプ パフォーマンス開発キットの評価基板

このアンプ パフォーマンス開発キット (PDK) は、オペアンプの一般的なパラメータをテストするための評価基板 (EVM) キットであり、ほとんどのオペアンプやコンパレータと互換性があります。この評価基板キットは、パッケージのニーズに適した、さまざまなソケット付きドーターカード オプションを搭載したメイン ボードで構成されており、エンジニアはデバイスの性能を迅速に評価および検証できます。

AMP-PDK-EVM キットは、業界標準の最も一般的な次の 5 種類のパッケージをサポートしています。

  • D (SOIC-8 と SOIC-14)
  • PW (TSSOP-14)
  • DGK (VSSOP-8)
  • (...)
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計算ツール

ANALOG-ENGINEER-CALC — アナログ技術者向けカリキュレータ

アナログ・エンジニア向けカリキュレータは、アナログ回路設計エンジニアが日常的に繰り返し行っている計算の多くを迅速化します。この PC ベース・ツールはグラフィカル・インターフェイスにより、帰還抵抗を使用したオペアンプのゲイン設定から、A/D コンバータ（ADC）のドライブ・バッファ回路の安定化に最適な部品の選択に至るまで、一般的に行われている各種計算のリストを表示します。スタンドアロン・ツールとして使用できるほか、『アナログ回路設計式一覧ポケット・ガイド』で説明されているコンセプトと組み合わせることもできます。
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設計ツール

CIRCUIT060013 — T ネットワーク帰還回路搭載、反転アンプ

このデザインは入力信号 VIN を反転し、1000V/V 言い換えると 60dB の信号ゲインを達成します。T 帰還回路搭載の反転アンプは、値が小さい R4 や値が大きい帰還抵抗なしで高いゲインを取得するために使用できます。
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設計ツール

CIRCUIT060015 — 調整可能なリファレンス電圧回路

この回路は、反転と非反転のアンプ回路を 1 つに組み合わせ、入力電圧の負の値から入力電圧までの可変の基準電圧を生成します。ゲインを増加して、負の最高基準電圧のレベルを増やすこともできます。
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設計ツール

CIRCUIT060074 — コンパレータによるハイサイド電流センシング回路

このハイサイド電流センシング・ソリューションは、レール・ツー・レール入力同相範囲に対応している 1 個のコンパレータを使用し、負荷電流が 1A を上回った合にコンパレータの出力端子 (COMP OUT) で過電流アラート (OC-Alert) 信号を生成します。この実装は、OC-Alert 信号をアクティブ・ローに設定しています。したがって、1A のスレッショルドを上回ったときに、コンパレータの出力がローになります。負荷電流が 0.5 A (50% 減少) に低下すると OC-Alert が論理 HIGH (...)
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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
リクエスト
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

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