データシート
UCC21330-Q1
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汎用:デュアル ローサイド、デュアル ハイサイド、またはハーフブリッジ ドライバ
- 以下の結果で AEC-Q100 認定済み
- デバイス温度グレード 1
- デバイス HBM ESD 分類レベル H2
- デバイス CDM ESD 分類レベル C4B
- 接合部温度範囲:-40~+150℃
- 最大 4A/6A のピーク ソース / シンク出力
- 125V/ns を超える同相過渡耐性 (CMTI)
- 最大 25V の VDD 出力駆動電源
- 8V VDD UVLO オプション
- スイッチング パラメータ:
- 伝搬遅延時間:33ns (代表値)
- 最大パルス幅歪み:5ns
- 最大 VDD 電源オン遅延:10µs
- あらゆる電源に対応する UVLO 保護
- 高速なディセーブルによる電源シーケンス
UCC21330-Q1 は、デッド タイムをプログラムでき、広い温度範囲に対応する絶縁型デュアル チャネル ゲート ドライバ ファミリです。ピーク電流はソース 4A、シンク 6A で、パワー MOSFET、SiC、GaN、IGBT トランジスタを駆動するように設計されています。
UCC21330-Q1 は、2 つのローサイド ドライバ、2 つのハイサイド ドライバ、または 1 つのハーフ ブリッジ ドライバとして構成可能です。入力側は、5kVRMS の絶縁バリアによって 2 つの出力ドライバと分離されており、同相過渡耐性 (CMTI) は 125V/ns 以上です。
保護機能には、抵抗によりプログラム可能なデッド タイム、両方の出力を同時にシャットダウンするディセーブル機能、5ns 未満の入力過渡を除去するグリッチ除去フィルタが含まれます。すべての電源が UVLO 機能を備えています。
これらの高度な機能により、UCC21330-Q1 は広範な電力アプリケーションにおいて高効率、高電力密度、および堅牢性を実現します。
技術資料
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1 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | UCC21330x -Q1 車載用 4A、6A、3kVRMS 絶縁型デュアル チャネル ゲート ドライバ データシート | PDF | HTML | 最新英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 12月 18日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
UCC21220EVM-009 — UCC21220 4A、6A、3.0kVRMS 絶縁型デュアルチャネル・ゲート・ドライバの評価モジュール
UCC21220EVM-009 is designed for evaluating UCC21220, which is a 3.0-kVRMS Isolated Dual-Channel Gate Driver with 4.0-A source and 6.0-A sink peak current capability. This EVM could be served to evaluate the driver IC against its datsheet. The EVM can also be used as Driver IC component selection (...)
ユーザー ガイド: PDF
シミュレーション・ツール
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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SOIC (D) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。