UCC21738-Q1
- 5.7kV RMS のシングル・チャネル絶縁型ゲート・ドライバ
- 下記の内容で AEC-Q100 認定済み:
- デバイス温度グレード 1:-40℃~+125℃の動作時周囲温度範囲
- デバイス HBM ESD 分類レベル 3A
- デバイス CDM ESD 分類レベル C6
- 機能安全品質管理
- 最高 2121V pk の SiC MOSFET および IGBT
- 最高出力駆動電圧 (VDD-VEE):33V
- ±10A の駆動能力と分割出力
- CMTI:150V/ns 以上
- 高速過電流保護、270ns の応答時間
- 外部アクティブ・ミラー・クランプ
- フォルト発生時の 900mA ソフト・ターンオフ
- システム・フォルト時にパワー・スイッチをオンにするための絶縁側 ASC 入力
- 過電流時の FLT アラームと RST/EN からのリセット
- RST/EN での高速イネーブル / ディスエーブル応答
- 入力ピンの 40ns 未満のノイズ過渡およびパルスを除去
- VDD の UVLO は 12V (RDY がパワー・グッドになる)
- 最大 5V のオーバー / アンダーシュート過渡電圧に耐える入力 / 出力
- 伝搬遅延時間:130ns 以下、パルス / 部品スキュー:30ns 以下
- 沿面距離と空間距離が 8mm を超える SOIC-16 DW パッケージ
- 動作時の接合部温度:-40℃~150℃
UCC21738-Q1 は、先進の保護機能、クラス最高の動的性能、堅牢性を持ち合わせ、最高 2121V (DC) で動作する SiC MOSFET および IGBT 用に設計されたガルバニック絶縁型シングル・チャネル・ゲート・ドライバです。 本デバイスは最大±10A のピーク・ソース / シンク電流を供給できます。
入力側は SiO 2 容量性絶縁技術によって出力側から絶縁されており、最大 1.5kV RMS の動作電圧、絶縁バリア寿命が 40 年を超える 12.8kV PK のサージ耐性を備えるとともに、小さい部品間スキューと 150V/ns を超える同相過渡耐性 (CMTI) を実現しています。
UCC21738-Q1 は、高速の過電流および短絡検出、シャント電流センシング、フォルト通知、アクティブ・ミラー・クランプ、入力側および出力側電源 UVLO などの最新の保護機能を備えているため、SiC および IGBT のスイッチング動作や堅牢性を最適化できます。ASC 機能を使用してシステム障害発生時にパワー・スイッチを強制的にオンにできるため、ドライバの汎用性をさらに高め、システム設計、サイズ、コストを簡素化できます。
詳細リクエスト
FMEDA (故障モード、影響、および診断分析)、安全性分析レポート、安全性マニュアルなどの機能安全情報が入手可能です。FMEDA (故障モード、影響、および診断分析)、安全性分析レポート、安全性マニュアルなどの機能安全情報が入手可能です。 ご請求
設計および開発
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The UCC21732QDWEVM-025 is a compact, single channel isolated gate driver board providing drive, bias voltages, protection and diagnostic needed for SiC MOSFET and Si IGBT Power Modules housed in 150 x 62 x 17 mm and 106 x 62 x 30 mm packages. This TI EVM is based on 5.7-kVrms reinforced isolation (...)
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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SOIC (DW) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。