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CD4070B

활성

4채널 2입력 3V~18V XOR(배타적 OR) 게이트

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CD4070B

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제품 상세 정보

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -6.8 Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -6.8 Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • High-Voltage Types (20V Rating)
  • CD4070B - Quad Exclusive-OR Gate
  • CD4077B - Quad Exclusive-NOR Gate
  • Medium Speed Operation
    • tPHL, tPLH = 65ns (Typ) at VDD = 10V, CL = 50pF
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20V
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • 5V, 10V and 15V Parametric Ratings
  • Maximum Input Current of 1µA at 18V Over Full Package Temperature Range
    • 100nA at 18V and 25°C
  • Noise Margin (Over Full Package Temperature Range)
    • 1V at VDD = 5V, 2V at VDD = 10V, 2.5V at VDD = 15V
  • Meets All Requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices
  • Applications
    • Logical Comparators
    • Adders/Subtractors
    • Parity Generators and Checkers

Data sheet acquired from Harris Semiconductor
  • High-Voltage Types (20V Rating)
  • CD4070B - Quad Exclusive-OR Gate
  • CD4077B - Quad Exclusive-NOR Gate
  • Medium Speed Operation
    • tPHL, tPLH = 65ns (Typ) at VDD = 10V, CL = 50pF
  • 100% Tested for Quiescent Current at 20V
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • 5V, 10V and 15V Parametric Ratings
  • Maximum Input Current of 1µA at 18V Over Full Package Temperature Range
    • 100nA at 18V and 25°C
  • Noise Margin (Over Full Package Temperature Range)
    • 1V at VDD = 5V, 2V at VDD = 10V, 2.5V at VDD = 15V
  • Meets All Requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices
  • Applications
    • Logical Comparators
    • Adders/Subtractors
    • Parity Generators and Checkers

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

The Harris CD4070B contains four independent Exclusive-OR gates. The Harris CD4077B contains four independent Exclusive-NOR gates.

The CD4070B and CD4077B provide the system designer with a means for direct implementation of the Exclusive-OR and Exclusive-NOR functions, respectively.

The Harris CD4070B contains four independent Exclusive-OR gates. The Harris CD4077B contains four independent Exclusive-NOR gates.

The CD4070B and CD4077B provide the system designer with a means for direct implementation of the Exclusive-OR and Exclusive-NOR functions, respectively.
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기술 자료

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7개 모두 보기
유형 직함 날짜
* Data sheet CD4070B, CD4077B datasheet (Rev. E) 2003/08/21
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 2017/06/12
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015/12/02
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007/01/16
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004/07/08
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003/11/14
Application note Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 2001/12/03

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈

14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.

사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매 불가
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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