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CD4504B

활성

TTL-CMOS 또는 CMOS-CMOS-CMOS 작동을 위한 CMOS 16진 전압 레벨 시프터

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CD4504B

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제품 상세 정보

Technology family CD4000 Bits (#) 6 Configuration 6 Ch B to A 0 Ch A to B High input voltage (min) (V) 2 High input voltage (max) (V) 18 Vout (min) (V) 2047036 Vout (max) (V) 18 Data rate (max) (Mbps) 24 IOH (max) (mA) -6.8 IOL (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 18 Features 22, 59.4, 181.42 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Bits (#) 6 Configuration 6 Ch B to A 0 Ch A to B High input voltage (min) (V) 2 High input voltage (max) (V) 18 Vout (min) (V) 2047036 Vout (max) (V) 18 Data rate (max) (Mbps) 24 IOH (max) (mA) -6.8 IOL (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 18 Features 22, 59.4, 181.42 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • Independence of power-supply sequence considerations - VCC can exceed VDD; input signals can exceed both VCC and VDD
  • Up and down level-shifting capability
  • Shiftable input threshold for either CMOS or TTL compatibility
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current @ 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • 5V, 10 V, and 15 V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor.
  • Independence of power-supply sequence considerations - VCC can exceed VDD; input signals can exceed both VCC and VDD
  • Up and down level-shifting capability
  • Shiftable input threshold for either CMOS or TTL compatibility
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current @ 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • 5V, 10 V, and 15 V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor.

CD4504B hex voltage level-shifter consists of six circuits which shift input signals from the VCC logic level to the VDD logic level. To shift TTL signals to CMOS logic levels, the SELECT input is at the VCC HIGH logic state. When the SELECT input is a LOW logic state, each circuit translates signals from one CMOS level to another.

The CD4504B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, and MT suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4504B hex voltage level-shifter consists of six circuits which shift input signals from the VCC logic level to the VDD logic level. To shift TTL signals to CMOS logic levels, the SELECT input is at the VCC HIGH logic state. When the SELECT input is a LOW logic state, each circuit translates signals from one CMOS level to another.

The CD4504B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, and MT suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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유형 직함 날짜
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설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈

14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.

사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매 불가
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
PDIP (N) 16 Ultra Librarian
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

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포럼 주제 모두 보기(영문)

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